型号/规格:BA 100
产品描述:膜厚测试仪产品特点: ★ X射线发生系统采用了聚光导管 由于采用了X射线聚光导管方式,可得到以往十的X射线强度,从而可以微小样品的镀层膜厚测量及有害物...
型号/规格:BA 10082#$%^83#$%^128#$%^84#$
产品描述:X射线膜厚测试仪简单地说萤光X射线装置(XRF)和X射线衍射装置(XRD)有何不同,萤光X射线装置(XRF)能得到某物质中的元素信息(物质构成,组成和镀层厚度),X射线衍...
型号/规格:BA 10082#$%^83#$%^128#$%^84#$
产品描述:镀金膜厚测试仪通过对于X射线测厚仪在日常使用过程中,一些影响X射线测厚仪度的因素,进行分析,同时相应的对于各类因素,在日常维护的中应该注意之处进行...
型号/规格:BA 10082#$%^83#$%^128#$%^84#$
产品描述:镀层膜厚测试仪X射线测厚仪的维护 1.X射线测厚仪具有绿色的特性,被广大的工厂运用在冶金板材生产中。但是X射线测厚仪也需要及时的维护,才能其准确性。
型号/规格:BA 10082#$%^83#$%^128#$%^84#$
产品描述:电镀膜厚测试仪测量的影响因素有: * 是X射线的高压控制箱会对测量的造成的影响。X射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源放射出X射线,通过X射线的...
型号/规格:BA 10082#$%^83#$%^128#$%^84#$
产品描述:x荧光膜厚测试仪x射线的原理是X射线和紫外线与一样是一种电磁波。可视光线的波长为0.000001 m (1μm)左右。
型号/规格:BA 10082#$%^83#$%^128#$%^84#$
产品描述:PCB膜厚测试仪及验收标准说明: 在仪器及稳定性发生争议时,双方采用BOWMAN公司原厂Au/Ni/Cu组合标准块校正仪器后,测量其组合标准块做为双方争议时确认验证...
型号/规格:BA 10082#$%^83#$%^128#$%^84#$
产品描述:台式膜厚测试仪软体说明: * 电脑操作系统 XP系统 * 测量膜厚元素范围:元素周期表13—92号元素间的镀层
型号/规格:BA 10082#$%^83#$%^128#$%^84#$
产品描述:半导体膜厚测试仪应用范围 * 测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从17(Cl)到92(U); * 5 层 (4 镀层 + 基材) / 24 元素 / 共存元素校正;
型号/规格:BA 10082#$%^83#$%^128#$%^84#$
产品描述:X-RAY膜厚测试仪1.准值仪4种孔径内藏式 仪器测量直径小可150微米。可供选择的准直器直径 有0.1、0.2、0.3和1.5毫米。
型号/规格:BA 10082#$%^83#$%^128#$%^84#$
产品描述:美国膜厚测试仪硬件配置(均为美国标准配): * 射 线 管:微聚焦型W靶鈹窗X射线管功率50W * 激发电源:仪器可调节式高压电源30-40-50KV高压激发电源
型号/规格:X-RAY
产品描述:─美国博曼(Bowman)配有功率X射线光管和高灵敏度探测器,能够满足复杂样品和微小测试面积的检测需求。 ─电制冷固态探测器的信/躁比,从而降低检测下限。探...
型号/规格:BA 10082#$%^83#$%^128#$%^84#$
产品描述:台式膜厚测试仪* 技术指标型号:元素分析范围从铝(AL)到铀(U)。 * 可同时分析多24个元素或五层以上镀层。
型号/规格:BA 10082#$%^83#$%^128#$%^84#$
产品描述:美国膜厚测试仪主要特点包括: + 成本低、快速、非破坏的分析。 + 可完成至多4层镀层(另加底材)和15个元素的镀层厚度测试,自动修正X射线重叠谱线。
型号/规格:BA 100
产品描述:X射线膜厚测试仪是采用X射线放射原理设计的,可对样品进行无破坏,无接触的测量,样品的完整性,减少不要的浪费,并且的FP数字计算法,对测量数据进行的计算,测量数...
型号/规格:BA 100
产品描述:x荧光膜厚测试仪特点有: 1.可测量0.01um-300um的镀层。 2.可做各种镀层(多层、合金、多层鎳)的精密测量。