电镀膜厚测试仪测量的影响因素有：
* 是Ｘ射线的高压控制箱会对测量的造成的影响。Ｘ射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源放射出Ｘ射线，通过Ｘ射线的穿透物体时的衰减量来测量被测物体的厚度。但是高压控制箱的安装位置会对测厚仪的度造成的影响。安装的位置不当就会使测量的不准确波动比较明显。另外，Ｘ射线本身的衰减也会影响测厚仪的测量。Ｘ射线源的衰减对于工厂现场的的标定过程中，随着使用时间的增加，灯管的曲线会发生变化，在同一电压下，随着使用灯管时间的递加，厚度偏差会越来越大，因此，Ｘ射线源的衰减，是影响测量的一个主要原因。除了正常使用过程中Ｘ射线源会出现衰减，在出现某些故障是，也会发生突发性的衰减，出现标准化通过不过，反馈的电压与工厂现场标准电压相差大，发生这种情况，Ｘ射线测厚仪的测量肯定是不准确的。
* 在Ｘ射线测厚仪通过施加高压释放出Ｘ射线时，Ｘ射线途经环境的温度湿度也会影响Ｘ射线对被测物体的测量。尤其是在热轧的过程中，测量的空间大Ｘ射线途经的环境就比较大，当温度高时，测量值减小，当温度低时，测量值则增加。
* 在测量过程中，被测物体上，可能会有附着物，也会影响测量的。比如，在轧制生产中，测量的钢板上可能会附着着水、油或者氧化物，这都会对Ｘ射线测厚仪的测量值造成影响，出现误差。另外，被测量的物体，可能会上下跳动，偏离测量时的位置，这种倾斜也会影响测量的。
* 是Ｘ射线的高压控制箱会对测量的造成的影响。Ｘ射线测厚仪的测量原理就是通过施加高压电源放射出Ｘ射线，通过Ｘ射线的穿透物体时的衰减量来测量被测物体的厚度。但是高压控制箱的安装位置会对测厚仪的度造成的影响。安装的位置不当就会使测量的不准确波动比较明显。另外，Ｘ射线本身的衰减也会影响测厚仪的测量。Ｘ射线源的衰减对于工厂现场的的标定过程中，随着使用时间的增加，灯管的曲线会发生变化，在同一电压下，随着使用灯管时间的递加，厚度偏差会越来越大，因此，Ｘ射线源的衰减，是影响测量的一个主要原因。除了正常使用过程中Ｘ射线源会出现衰减，在出现某些故障是，也会发生突发性的衰减，出现标准化通过不过，反馈的电压与工厂现场标准电压相差大，发生这种情况，Ｘ射线测厚仪的测量肯定是不准确的。
* 在Ｘ射线测厚仪通过施加高压释放出Ｘ射线时，Ｘ射线途经环境的温度湿度也会影响Ｘ射线对被测物体的测量。尤其是在热轧的过程中，测量的空间大Ｘ射线途经的环境就比较大，当温度高时，测量值减小，当温度低时，测量值则增加。
* 在测量过程中，被测物体上，可能会有附着物，也会影响测量的。比如，在轧制生产中，测量的钢板上可能会附着着水、油或者氧化物，这都会对Ｘ射线测厚仪的测量值造成影响，出现误差。另外，被测量的物体，可能会上下跳动，偏离测量时的位置，这种倾斜也会影响测量的。
* 在生产过程中，补偿值也会对Ｘ射线测厚仪的测量造成影响。我们利用测厚仪测量是，会事先给测厚仪输入一个补偿值，让测量值与实际值相等。在这个过程中，操作者先对板材进行测量，但是操作者使用量尺的方式不同，就会造成补偿值的大小不等，会形成人为的误差。只有在进行测量时，操作者认真操作，减少补偿值得测算误差，使补偿值接近真实值，Ｘ射线测厚仪的测量。
电镀膜厚测试仪放射源基本结构。放射源主要由X射线管、阴丝、变压器、高压倍压电路组成。X射线管是密封真空的，它的阴是钨丝，阳是钨制成的目标靶。当阴通电时，阴钨丝由于发热而产生热电子，热电子在高压作用下产生动能，并以很高的加速度射向阳目标靶形成管电流。当热电子撞到阳靶时.它的动能就转换成热和X射线，穿线管以光子的形式发射出去。
电镀膜厚测试仪标准块盒。标准块盒的主要作用是对测厚仪进行校准，由校准的结果得到一组校准曲线。标准块盒的位置在X射线管的上面，由7个纯铝标准块组成，每个标准块由一个电控电磁线圈驱动放人X射线束，通过计算机控制可组成不同的厚度。该测厚仪总的校准范围为10~500fmi。
