★ X射线发生系统采用了聚光导管
由于采用了X射线聚光导管方式,可得到以往十的X射线强度,从而可以微小样品的镀层膜厚测量及有害物质测量的。
★ 无需液氮的半导测器
在进行薄膜测量与有害物质的浓度测量时,高分辨率的检测器是不可少的,不但可以高分辨率,而且可以实现高计数率。同时,由于使用了电子冷却方式,所以无需液氮。
★ 能谱匹配软件
可识别未知样品与事先存档的X射线能谱库中哪一个样品较为接近的软件。对识别材料十分。
★ 块量线软件(适用于电镀液分析)
可简单地测量出电镀液中主要金属的浓度。
★ 绘图软件(选配件)
将元素面分析的结果进行等高线和色彩使用等视觉处理的软件。
★ 电镀液容器(选配件)
★ 各种标准物质(选配件)
膜厚测试仪放射源基本结构。放射源主要由X射线管、阴丝、变压器、高压倍压电路组成。X射线管是密封真空的,它的阴是钨丝,阳是钨制成的目标靶。当阴通电时,阴钨丝由于发热而产生热电子,热电子在高压作用下产生动能,并以很高的加速度射向阳目标靶形成管电流。当热电子撞到阳靶时.它的动能就转换成热和X射线,穿线管以光子的形式发射出去。
膜厚测试仪标准块盒。标准块盒的主要作用是对测厚仪进行校准,由校准的结果得到一组校准曲线。标准块盒的位置在X射线管的上面,由7个纯铝标准块组成,每个标准块由一个电控电磁线圈驱动放人X射线束,通过计算机控制可组成不同的厚度。该测厚仪总的校准范围为10~500fmi。