台式膜厚测试仪检测器。X射线检测器主要由光电管和前置放大器组成。光电管 的阴加有高压(通常几百伏)。当X射线光子射到光电管的阴时产生电子,在阴电压的作用下,把阴的每个电子(假设每放大n个电子)增加到d (d为数)个电子,即放大管电流,终到达阳,然后通过前置放大器把管电流放大并转换成电压形式。
台式膜厚测试仪软体说明:
* 电脑操作系统 XP系统
* 测量膜厚元素范围:元素周期表13—92号元素间的镀层,
使用FP法充许各元素镀层次序的自由组合测量层层次,多可以测量四层(加基材多五层)
* 仪器支持二种镀层厚度计算方法
(1)、无标准片的FP法(Fundamental Parameter)数学计算方法。
FP法名词解释:即在没有标准块的前提下,一样能测量,此方式是通过仪器直接读取镀层元能量信息,通过各无素能量信号的强弱或设定的各无素比例参数,以一种数学的方式直接计算镀的厚度。因为它不需要标准块,因此它不受标准块的限制,在没有各种合金镀层标准块的情况下样的测量各种二元、三元合金镀层)到目前为止,bowman是世界上可实现此种新型测试技术的膜厚测量品牌,此技术已使用了17年。
(2)、支持传统的带标准块的检量线法,即通过镀层标准块建立测试程式档案测量相对应的镀层厚度。