半导体膜厚测试仪采用X射线管和高压电源。X射线管装在一个抽真空后注满油的全密封的油箱中缘和良好冷却，高压等级根据所造型号不同有所区别，加上传感器具有的温度自动保护与报警功能，了X射线管的稳定性和使用寿命。模块化设计、免维护设计方案及规范的制造了设备系统高性。
半导体膜厚测试仪检测器。X射线检测器主要由光电管和前置放大器组成。光电管 的阴加有高压（通常几百伏）。当X射线光子射到光电管的阴时产生电子，在阴电压的作用下，把阴的每个电子（假设每放大n个电子）增加到d (d为数）个电子，即放大管电流，终到达阳，然后通过前置放大器把管电流放大并转换成电压形式。
半导体膜厚测试仪应用范围
* 测量镀层,涂层,薄膜,液体的厚度或组成,测量范围从17(Cl)到92(U);
* 5 层 (4 镀层 + 基材) / 24 元素 / 共存元素校正;
* 组成成分分析时可同时测定24种元素;
* 镀液中元素含量分析;
* 元素光谱定性分析;
* 基材分析;
生产商及仪器型号：
制造商：美国BOWMAN公司
原产地：美国
型 号：BA 100
