x荧光膜厚测试仪检测器。X射线检测器主要由光电管和前置放大器组成。光电管 的阴加有高压(通常几百伏)。当X射线光子射到光电管的阴时产生电子,在阴电压的作用下,把阴的每个电子(假设每放大n个电子)增加到d (d为数)个电子,即放大管电流,终到达阳,然后通过前置放大器把管电流放大并转换成电压形式。
x荧光膜厚测试仪x射线的原理是X射线和紫外线与一样是一种电磁波。可视光线的波长为0.000001 m (1μm)左右。
对某物质进行X射线照射时,可以观测到主要以下3种X射线。
(1) 萤光X射线
(2) 散乱X射线
(3) 透过X射线
膜厚测试仪,分为手持式和台式二种,手持式又有磁感应镀层测厚仪,电涡流镀层测厚仪,荧光X射线仪镀层测厚仪。手持式的磁感应原理时,利用从测头经过非铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小.来测定覆层厚度。也可以测定与之对应的磁阻的大小,来表示其覆层厚度。
台式的荧光X射线膜厚测试仪,是通过X射线穿透金属元素样品时产生量的光子,俗称为二次荧光,,在通过计算二次荧光的能量来计算厚度值。