X射线膜厚测试仪是采用X射线放射原理设计的,可对样品进行无破坏,无接触的测量,样品的完整性,减少不要的浪费,并且的FP数字计算法,对测量数据进行的计算,测量数据的准确性.
X射线膜厚测试仪集成化计算机 工作站式设计：人机工程学、方便使用
简化设备安装：需要接入主电源线，没有其他电缆减少整机占用空间
U和Ethernet接口：打印机、刻录机、局域网和远程在线支持功能
其他硬件特点 CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测
X射线膜厚测试你具有温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，长期的仪器稳定性
光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序仪器长期的稳定性
X射线膜厚测试仪集成化计算机 工作站式设计：人机工程学、方便使用
简化设备安装：需要接入主电源线，没有其他电缆减少整机占用空间
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其他硬件特点 CCD相机拥有2x、3x或4x的变焦功能，可实现对测定样品的高分辨、实时、彩色图像观测
X射线膜厚测试你具有温度补偿功能监测系统温度，并自动校正由于温度变化可能引起的仪器漂移，长期的仪器稳定性
光谱校准、单击鼠标执行系统性能自检和校正程序仪器长期的稳定性
坚实耐用的仪器设计适用于各种工业环境
