x射线膜厚测量仪技术指标：
★ 型号：BOWMAN_BA 100
★ 元素分析范围：从AL到U
★ 性可同时分析多层镀层
★ 分析厚度检测出限达0.01um
★ 同时可分析多达5层以上镀层
★ 相互的基体效应校正模型，厚度分析方法
★ 多次测量重复性可达0.01um
★ 长期工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品）
★ 温度适应范围：15℃~30℃
★ 型号：BOWMAN_BA 100
★ 元素分析范围：从AL到U
★ 性可同时分析多层镀层
★ 分析厚度检测出限达0.01um
★ 同时可分析多达5层以上镀层
★ 相互的基体效应校正模型，厚度分析方法
★ 多次测量重复性可达0.01um
★ 长期工作稳定性小于0.1um（5um左右单镀层样品）
★ 温度适应范围：15℃~30℃
★ 输出电压220±5V/50HZ（建议配置交流净化稳压电源）
x射线膜厚测量仪作为一种在线测量厚度的精密仪器，在电镀工艺生产中占有重要的，直接影响到电镀产品的质量。镀层控制系统接收到膜厚仪提供的实事厚度偏差信号对物料挤出机、物料加热器进行控制。信号的准确和灵敏程度直接影响了镀层产品厚度的。
x射线膜厚仪通过吧高压直流电压加在x射线的两，产生不同能级的x射线穿过被测物，比较被测物两端x射线的强度来进行在线厚度测量。
