型号/规格:LE-M5
产品描述:LE-M5 采用全新椭偏算法配合高品质相位补偿的设计方案,可以获得更出色的原始椭偏参数(Tanψ及CosΔ),进而获得更为的折射率及膜厚。支持多角度测量,适应...
型号/规格:EM01-PV-III10#$%^11#$制造商%^134#$全新%^12#$中国
产品描述:EM01-PV-III多入射角激光椭偏仪应用于单晶、多晶及各种薄膜太阳能电池的折射率和膜厚测量领域,既适合科研院所研究使用,亦适合工厂进行工艺研究分析和产线上...
型号/规格:Nanofilm_EP3_SW
产品描述:传统的椭偏仪作为一个强大的薄膜表征技术已经有超过100年的历史。而应用成像椭偏仪可以将被研究对象的尺寸下调到微米范围,此技术可以应用于微结构样品测试。...
型号/规格:Nanofilm_EP3_SE
产品描述:传统的椭偏仪作为一个强大的薄膜表征技术已经有超过100年的历史。而应用成像椭偏仪可以将被研究对象的尺寸下调到微米范围,此技术可以应用于微结构样品测试。...
型号/规格:PHE
产品描述:仪器简介:高光谱椭偏仪!荣获 the award of Best of Boston and Best of Braintree for Optical Instruments and Apparatus! 可以测量折射指数、消光系数(...
SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光-美国海洋光学
型号/规格:美国海洋光学/SpecEl-2000-VIS
产品描述:OceanOptics光纤光谱仪>>其它>>SpecEl椭偏仪SpecEl-2000-VIS椭偏仪通过测量基底反射的偏振光,进而测量薄膜厚度及材料不同波长处的折射率。Spec...
产品描述:SPECEI-2000是一款应用椭圆偏光原理的台式薄膜测量系统,适用于平面多层膜厚测量,如晶片、玻璃片等。分光椭偏仪可以测量光的多层反射,除了强度之外,也可以...
产品描述:多角度激光椭偏仪(pH-LE型)专门针对晶硅太阳能电池绒面上的减反膜测量,能够测量薄膜厚度及其光学常数,使用632.8nm波长氦氖激光器,具有高的度和准确度。...
型号/规格:HS-PH-SE
产品描述:谱椭偏仪(PH-SE型)针对太阳能电池应用,可测量多晶硅/单晶硅绒面表面单层(二层或多层)减反射膜、和玻璃/基底上的薄膜太阳能电池。多层膜和非均匀薄膜的分析...
型号/规格:PH-LE
产品描述:多角度激光椭偏仪(PH-LE型)专门针对晶硅太阳能电池绒面上的减反膜测量,能够测量薄膜厚度及其光学常数,使用632.8nm波长氦氖激光器,具有高的度和准确度。多...
型号/规格:HS-PH-ASE
产品描述:全自动光谱椭偏仪(PH-ASE型)把使用者从烦琐的手动调节样品高度和倾斜度工作中解放出来,样品对准是为了椭偏仪测量的可重复性和性。已获得的自动样品对准装置...
型号/规格:ELLIPA,ELLIPE
产品描述:根据不同的技术和应用需求,本公司生产的椭偏仪应用于大学和研究所的科学研究领域,具有较完整的测量功能和较高的,从仪器状态调整、参数设置、数据采集一直...
产品描述:椭圆偏振光谱仪主要用于测量薄膜厚度,光学常数,薄膜表面粗糙度以及其他的物理,化学,光学性能。美国AST公司设计和制造适合不同应用的椭圆偏振光谱系统,其...