传统的椭偏仪作为一个强大的薄膜表征技术已经有超过100年的历史。而应用成像椭偏仪可以将被研究对象的尺寸下调到微米范围，此技术可以应用于微结构样品测试。例如，当今信息存储设备（如各种硬盘）的读写头-悬臂梁探针微传感器表面的反应涂层就可以用成像椭偏仪进行表征。而由于传统的椭偏仪光斑直径很大不能用以该类测试。 同时，基于椭偏测试数据成像椭圆偏振技术可以绘制空间分辨率达到一个微米左右的三维图像，而且在这个过程中可以同时保留传统椭圆偏振技术亚纳米膜厚分辨率的优点。利用成像椭偏仪Nanofilm_EP3SW您可以分析表征各种超薄膜，并且绘制三维立体图形：如各种支撑膜，自组装单分子膜和LB膜。甚至可以进行液相表面和无机膜分析：如硅基片上的二氧化硅薄膜。 产品特点 三合一技术：集成像椭偏仪；布鲁斯特角显微镜和成像表面等离子体共振仪（SPR）于一体 实时椭偏对比显微图像让您对您的样品直接观察—测试时能真正实时地“看”到您做的东西。 椭偏领域内的横向分辨率让您研究横向尺寸小到一个微米的微结构表面。 交互式和易于使用的光学模块 液体表面薄膜成像 使微结构薄膜和非均质薄膜的研究也能利用椭圆偏振技术 标准配置 PCSA布局（起偏器Polarizer-补偿器Compensator-样品Sample-分析器Analyser）--消光椭圆偏振技术 （658nm, 20mW）固态激光光源—其他激光源可选 768x572像素CCD 10倍物镜 机动测角仪 手动样品台 EP3测试软件，EP4模拟-拟合软件 应用领域 微纳米试样：金箔上的硫醇薄膜；铝箔上的SiO2薄膜 微结构薄膜：微结构支撑磷脂薄膜和混合双层膜的横向相分离（磷脂/糖脂） 透明基片：水面LB薄膜，玻璃上蛋白质芯片 微芯片：生物芯片质量控制；生物分子反应；吸收动力学反应；多通道测量 升级 Nanofilm_EP3SE：升级到光谱型成像椭圆偏振仪 升级到成像表面等离子共振谱仪（SPR） 原子力显微镜/原子探针（AFM）联用 推荐附件 自动样品台 激光安全柜 固/液附件和表面等离子共振谱仪附件 温度控制附件 液体控制附件 2倍，5倍，20倍，50倍物镜 光斑切割元件 光斑放大/扩束元件 EP3测试附加软件 LB槽，Z向高度控制部件 主动减震系统
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