型号/规格:WLI100010#$Rtec%^11#$贸易商%^134#$全新%^635#$%^12#$美国
产品描述:本公司的WLI1000白光干涉仪测量系统沿着纵轴捕获一系列位置的光强数据。通过白光干涉图的形状,干涉图的局部相位或者是二者的结合来确定表面位置。本公司还有...
产品描述:产品介绍 白光干涉仪SIS系列采用增加相位扫描干涉技术,是专为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度和其他表面参数而设计的微纳米测量系统,,为韩国SAMSUN...
型号/规格:自动SIS200
产品描述:基本信息品牌:SNU型号:SIS 2000操作方式:自动功能:检测、观察、分析 :1nm 其它型号:SIS 1200 产品介绍 白光干涉仪SIS系列采用增加相位扫描干涉技...
型号/规格:AE-100M
产品描述:AE-100M 产品用途 结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜,结合显微物镜与干涉仪、不需要复杂光调整程序,兼顾体积小、纳米分辨率、易学...
型号/规格:3dfamily
产品描述:<!-- .at_0{BORDER-RIGHT: 1px solid; BORDER-TOP: 1px solid; BORDER-L: 1px solid; BORDER-BOTTOM: 1px solid} -->RoHS Validator II荧光分析仪,...
产品描述:性能特点:1.X轴取花岗石横梁为基础,确保机构不会变形及横 梁中间不会下垂2.X轴直线导轨取上置设计,符合导轨受力原 理,具有高及运行稳定的特点3.X轴...
产品描述:详细描述 1 、非接触式测量:避免物件受损。 2 、三维表面测量:表面高度测量范围为 1nm ---200μm。 3 、多重视野镜片:方便物镜的快速切换。 4 、纳米级分...
型号/规格:AE-100M10#$rational%^11#$制造商%^134#$全新%^12#$广东省东莞市
产品描述:结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜,结合显微物镜与干涉仪、不需要复杂光调整程序,兼顾体积小、纳米分辨率、易学易用等优点,可提供垂...
型号/规格:AE-100E70#$Rational 万濠%^71#$贸易商%^143#$全新%^72#$广东
产品描述:结合光学显微镜与白光干涉仪功能的扫描式白光干涉显微镜,结合显微物镜与干涉仪、不需要复杂光调整程序,兼顾体积小、纳米分辨率、易学易用等优点,可提供垂...
产品描述:自动白光干涉仪SIS 2000的详细信息 基本信息品牌:SNU型号:SIS 2000操作方式:自动功能:检测、观察、分析...
产品描述:德国BMT WLI白光干涉仪的详细信息 ?主要用途:粗糙和光滑表面的测量和显示亚微米范围内的微观形貌测量金相测...
型号/规格:SIS 2000
产品描述:类型白光干涉仪品牌SNU 型号SIS 2000品种其他干涉仪 测量范围200×200×100(mm)测量分辨率0.1nm 用途TFT产业、半导体、MEMS、...