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硅棒硅锭红外探伤仪
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硅棒硅锭红外探伤仪

产品价格:
电议
产品型号:
进口
供应商等级:
企业未认证
经营模式:
工厂
企业名称:
北京羲和阳光科技发展有限公司
所属地区:
北京市
发布时间:
2011/8/23 13:14:17

+86-010-60290891      18618315708

包经理女士(联系我时,请说明是在维库仪器仪表网看到的,谢谢)

企业档案

北京羲和阳光科技发展有限公司

企业未认证营业执照未上传

经营模式:工厂

所在地:北京市

主营产品:少子寿命测试仪,硅锭探伤仪,硅料分选仪,硅片自动41点精密测,手动硅片测厚仪,碳氧含量测试仪,硅片表面线痕测试仪,硅料检测分选仪,太阳能级硅少子寿命测,硅棒、硅锭探伤仪,光伏检测显微镜,薄膜方块电阻测试仪,手持式电阻率测试仪,便携式硅料分选仪,钨钢探针,全自动硅片测厚

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硅棒\硅锭红外探伤仪
型号:进口。
实现对太阳能硅块快速、无接触的缺陷检测。检测的缺陷类型包括: 裂纹和空洞、SiC杂质、 微晶聚集结构、金属沉淀。
产品特点    

系统操作简单、便捷;
线扫描模式的高分辨率红外CCD 探测器;
硅块扫描尺寸至400×210×210mm;
适应非抛光及抛光硅块样品;
集成驱动马达,自动旋转样品台,实现硅锭4 侧面的自动测试;
提供自动、手动两种检测模式,方便对缺陷区域进行快速定位;
特有校准模板,可以消除系统光学像差,提高缺陷定位;
系统软件能够自动识别硅锭缺陷,帮助分析缺陷类型;
系统软件能够定位硅锭缺陷,并可将其转换为三维(3D)模型图像。

技术指标    
测试缺陷:裂纹,杂质,空洞,微晶区等;
扫描模式:线扫描;
测试速度:4面检测<1分钟;
测试尺寸:400×210×210mm;
光源<300W
定位:<100μm;
定位重复性:30μm;
分辨率:1000×2600px;
AC:110V/15A。
软件截图    
数据采样 基线设置

联系方式

北京羲和阳光科技发展有限公司

联系人:
包经理女士
手机:
18618315708
传真:
010-60290891
所在地:
北京市
类型:
工厂
地址:
北京大兴区西红门路26号明珠商务7A-306

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QQ:1419343158 
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