产品描述:探针式轮廓仪(台阶仪/膜厚仪)Dektak XT 布鲁克 Dektak XT 台阶仪(探针式表面轮廓仪)是一项性的设计,可以提供的重现性,重现性低于5Å。台阶...
型号/规格:BA 10050#$%^51#$%^129#$%^52#$
产品描述:X射线膜厚仪的详细信息 X射线膜厚仪是针对高要求用户设计的,能够测量精密的样品,如:微形部件或线路板上微...
产品描述:博曼PCB板电镀膜厚仪,可对应于含无铅焊锡在内的合金电镀或多层电镀的测量,应用范围广泛。利用Microsoft的Office操作系统可将检测工作之便简单快速地打印出...
产品描述:美国半导体PCB板膜厚仪行业用于电子元器件,半导体,PCB,LED支架,五金电镀,连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量. ...
产品描述:美国x射线镀金膜厚仪可应用于在线膜厚测量,测氧化物,SiNx,感光保护膜和半导体膜.也可以用来测量镀在钢,铝,铜,陶瓷和塑料等上的粗糙膜层. 薄膜表面或界面的反...
产品描述:博曼半导体PCB板膜厚仪主要特点包括: 成本低、快速、非破坏的分析 可完成至多4层镀层(另加底材)和15个元素的镀层厚度测试,自动修正X射线重叠谱线...
产品描述:博曼半导体线路板膜厚仪主要特点包括: 成本低、快速、非破坏的分析 可完成至多4层镀层(另加底材)和15个元素的镀层厚度测试,自动修正X射线重叠谱线 卓越...
型号/规格:BOWMAN
产品描述:博曼半导体X-RAY膜厚仪 Bowman博曼膜厚测试仪适合于对微细表面积或镀层的测量。测量更小、更快、更薄MicronX 比现有其它的XRF仪器可以测量更小的面积、更薄的...
型号/规格:BA100
产品描述:bowman半导体镀金膜厚仪能提供一般镀层厚度和元素分析功能,不单性能,而且价钱.分析镀层厚度和元素成色同时进行,数秒钟,便能非破坏性地得到准确的测量结果,多...
型号/规格:BA100
产品描述:博曼X-RAY荧光膜厚仪规格描述: X射线激发系统:垂直上照式X射线光学系统。准直器程控交换系统:可同时装配4种规格的准直器。测厚范围可测定厚度范围:取决于...
型号/规格:XRF-1
产品描述:X-RAY荧光膜厚仪可测量:单一镀层:Zn, Ni,Cr,Cu,Ag,Au,Sn等。 二元合金层:例如Fe上的SnPb,ZnNi和NiP合金。 三元合金层:例如Ni上的AuCdCu合金。 ...
型号/规格:BA100
产品描述:bowman线路板半导体膜厚仪快速、的分析: 大面积正比计数探测器和博曼仪器50瓦微聚焦X射线光管(X射线光束强度大、斑点小,样品激发佳)相结合,提供灵敏度....
型号/规格:X-Strata980
产品描述:X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率,能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态的信/躁比,从而降低检测下限。分辨率...
产品描述:XRF2000能提供金属镀层厚度的测量,同时可对电镀液进行分析,不单性能,而且价钱,同比其他牌子相同配置的机器,XRF2000为您大大节省成本。数秒钟,便能非破...
型号/规格:TT210
产品描述:本仪器是磁性、涡流一体的便携式覆层测厚仪,它能快速、伤、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。
产品描述:韩国MicroPioneer X-射线荧光膜厚仪/测厚仪,主要应用于一般工件、线路板、五金电镀、半导体支架电镀、人造饰、端子及电子元器件等产品的各种镀层行业的一款...