bowman线路板半导体膜厚仪

bowman线路板半导体膜厚仪快速、的分析：
大面积正比计数探测器和博曼仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供灵敏度.
bowman膜厚测试仪简单的元素区分：
通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱.  
bowman膜厚测试仪性能优化，可分析的元素范围大：
预置800多种容易选择的应用参数/方法.
bowman膜厚测试仪卓越的长期稳定性：
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，稳定的测试结果.
例行进行简单快 速的波谱校 准，可自 动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行要的修正.
坚固耐用的设计.
可在实验室或生产线上操作，坚固的工业设计.
bowman膜厚测试仪结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、的镀层厚度测量和材料分析。

镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量，我公司是博曼（bowman）仪器的大陆代理商，销售：复合镀层测厚仪、X射线元素分析仪、线路板铜厚测量仪、合金分析仪、产品RoHS检测仪，镀层测量仪,电镀测厚仪,膜厚测量仪,金属测厚仪,X射线测厚仪,测厚仪,镀膜测厚仪,金镍测厚仪,铜厚测量仪.
bowman膜厚测试仪优势有:
1.、高、长期稳定性、快速的分析带来生产成本优化，测定元素厚度，优化的性能可满足广泛的元素测量.
2.坚固耐用的设计：近生产线或在实验室操作，生产人员易于使用.
3.简单的校准调试：bowman膜厚测试仪在没有标准片时，经验系数法或基本参数法可以提供简单的定量结果，方法建立几分钟，我们提供标准片以度（A2LA和ISO/IEC17025），预置了多种校准参数.