膜厚仪（X-Strata980）

　　X-Strata980结合了大功率X射线管和高分辨率，能够满足多镀层、复杂样品和微小测试面积的检测需求。这款仪器的电制冷固态的信/躁比，从而降低检测下限。分辨率高，能更容易地识别、量化和区分相邻的元素。有害元素检测结果可到ppm级，产品满足要求，帮助企业降低高昂的产品召回成本和法令执行成本。您可以针对您的应用选择合适的分析模型：经验系数法、基本参数法或两者结合。这款仪器能对电子产品上的关键组装区域进行快速筛选性检测。一旦识别出问题区域，即可对特定小点进行定量分析。大型样品舱能够灵活地检测大件或形状不规则的样品，大舱门使样品更易放入。
　　应用：
　　--RoHS/WEEE
　　--有害元素痕量分析
　　--焊料合金成分分析和镀层厚度测量
　　--电子产品中金和钯镀层的厚度测量
　　--五金电镀、CVD、PVD镀层的厚度测量
　　--贵金属合金分析和牌号鉴定
　　产品特点：
　　--100瓦X射线管
　　--25mm2PIN
　　--多准直器配置
　　-扫描分析及元素分布成像功能
　　--灵活运用多种分析模型
　　--清晰显示样品合格/不合格
　　--样品舱
　　--同时分析元素含量和镀层厚度
　　技术参数：
　　--元素范围：S（16）to U（92）
　　--可测镀层层数：5层（4层＋底材），可同时分析25种元素成份
　　--X射线管功率：100W（50kV and 2mA）微焦点钨靶X射线管
　　--：25mm2 PIN 电制冷固态
　　--滤波器/准直器：多可包含5个初级滤波器和4个准直器规格（0.1，0.2，0.3，1.27mm）
　　--数字脉冲处理器：4096多道数据分析功能；自动数据处理，包括时间修正
　　--电脑/显示器/系统软件
　　Celeron，1.86 GHz，40 GbHD，512 RAM，相同或更置
　　15"LCD，1024 x 768
　　MicrosoftTM XP SP2
　　--摄像系统：1/2"CMOS-640x480 VGA resolution
　　--电源：85~130V or 215~265 V，频率47Hz to 63Hz
　　--工作环境：10−40℃、相对湿度小于98%，无冷凝水
　　--XYZ轴行程：203 x 152 x 216 mm（8 x 6 x 8.5"）
　　--样品尺寸
　　305 x 390 mm（12 x 15.4"），样品高度为 50mm（2"）
　　305 x 352 mm（12 x 13.9"），样品高度为 203mm（8"）
　　--舱室尺寸：（W x D x H）：584 x 508 x 220mm（23 x 20 x 8.7"）
　　--外型尺寸
　　高765mm（30.1"）
　　宽 700mm（27.5"），840mm（5.5"）
　　深790mm（31.1"），990 mm（39"）