镀层测厚仪（CMI900）

　　CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点，在质量管理到不良品分析有着广泛的应用。用于电子元器件，半导体，PCB，汽车部件，功能性电镀，装饰件，连接器等多个行业。
　　
　　主要特点
　　样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体（镀液中的元素含量）
　　可检测元素范围：Ti22–U92
　　可同时测定5层/15种元素
　　高、稳定性好
　　强大的数据统计、处理功能
　　测量范围宽
　　NIST的标准片
　　服务及支持
　　
　　技术参数
　　主要规格规格描述
　　X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统
　　空冷式微聚焦型X射线管，Be窗
　　标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、AG等
　　功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）−标准　75W（4-50kV，0-1.5mA）−任选
　　装备有射线光闸
　　二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选
　　准直器程控交换系统多可同时装配6种规格的准直器
　　多种规格尺寸准直器任选：−圆形，如4、6、8、12、20　mil等−矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
　　测量斑点尺寸在12.7mm聚焦距离时，小测量斑点尺寸为：0.078　x　0.055　mm（使用0.025　x　0.05　mm准直器）
　　在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38　x　0.42　mm（使用0.3mm准直器）
　　
　　样品室　CMI900　CMI950
　　−样品室结构开槽式样品室开闭式样品室
　　−样品台尺寸　610mm　x　610mm　300mm　x　300mm
　　−XY轴程控移动范围标准：152.4　x　177.8mm　还有5种规格任选　300mm　x　300mm
　　−Z轴程控移动高度　43.18mm　XYZ程控时，152.4mm　XY轴手动时，269.2mm
　　−XYZ三轴控制方式多种控制方式任选：XYZ三轴程序控制、XY轴手动控制和Z轴程序控制、XYZ三轴手动控制
　　−样品观察系统高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。50倍和100倍观察系统任选。
　　
　　激光自动对焦功能
　　可变焦距控制功能和固定焦距控制功能
　　计算机系统配置　IBM计算机惠普或爱普生彩色喷墨打印机
　　分析应用软件操作系统：Windows2000中文平台分析软件包：SmartLink　FP软件包
　　−测厚范围可测定厚度范围：取决于您的具体应用。
　　−基本分析功能采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供要的校正用标准样品。
　　
　　样品种类：镀层、涂层、薄膜、液体（镀液中的元素含量）
　　可检测元素范围：Ti22–U92
　　可同时测定5层/15种元素/共存元素校正
　　贵金属检测，如Au　karat评价
　　材料和合金元素分析，
　　材料鉴别和分类检测
　　液体样品分析，如镀液中的金属元素含量
　　多达4个样品的光谱同时显示和比较
　　元素光谱定性分析
　　−调整和校正功能系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移