膜厚测量仪（X-STRATA920）

　　应用
　　X射线荧光分析仪X-Strata920是一款率、快速的镀层厚度测量及材料分析设备。
　　行业
　　X-Strata920在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920为这些行业提供了：
　　以更的过程控制来生产力
　　有助电镀过程中的生产成本小化、产量化
　　快速地分析珠宝及其他合金
　　快速分析多达4层镀层
　　经行业的技术和性，每年都带来收益
　　操作简单，要简单的培训
　　卓越的性能
　　
　　快速、的分析：
　　大面积正比计数探测器和牛津仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供灵敏度
　　简单的元素区分：
　　通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
　　性能优化，可分析的元素范围大：
　　X-Strata920预置800多种容易选择的应用参数/方法
　　卓越的长期稳定性：
　　自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，稳定的测试结果
　　例行进行简单快速的波谱校准，可自动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行要的修正
　　坚固耐用的设计
　　可在实验室或生产线上操作
　　
　　坚固的工业设计
　　三种配置选择
　　固定样品台
　　样品台位置固定
　　经济、实用
　　平面样品台设计，适合高度不过1.3"（33mm）的样品分析
　　加深样品台
　　高度每英寸（25.4mm）可调，架构式样品舱可容纳
　　高度6.3"（160mm）的样品
　　程控样品台
　　用于自动化测量
　　方便根据测试位置放置样品，并精准定位测量点
　　样品台尺寸：22"（D）x 24"（w），即560mm（深）x 610mm（宽）
　　程控台移动距离：7"x 7"，即178mm x 178mm