■主要探测指标:裂缝,黑点,夹杂(通常为SiC),隐裂,微晶
■硅块电阻率:≥0.5Ohm*Cm(推荐)
■检测时间:平均每个硅块小于1分钟,两面小于20秒,一面小于5秒
■硅块尺寸:210mmx210mmx420mm
■分辨率:320px*256px(早生产的产品)
640 px*512px(目前市场供应)
1280 px*1024px(2010年12月份批量生产)
2560 px*2048px(行业,2011年1-3月份批量生产)
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