产品
HS-TRM-100型无接触式电阻率型号测试仪是基于涡流（Eddy Current）测试技术，能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行无接触、伤的体电阻率测试。
无接触式电阻率型号测试仪-产品特点
■测试范围广，低阻可测至0.001ohm.cm，甚至0.0007ohm.cm，高阻可测至100ohm.cm
■产品体积小，便于移动和携带
■采用涡流法测试硅锭、棒、回炉料体电阻率
■无接触、伤快速测试
■测试前无需表面处理
■对于多晶，能够避免晶界对测试的影响
■测试范围：0.001-100 ohm.cm（分段测试）
■可选加无接触PN型号测试功能
■可进行温度和厚度的修正
无接触式电阻率型号测试仪-技术指标
■硅棒硅块可测量电阻率范围：0.001-100Ohm.cm
■小测试厚度：200μm
■测量时间：2秒/次
■小测试面积：30x30 mm
■推荐使用温度：20℃
■湿度：≤80%
■气压：86-106kPa
■使用电压：230&plun;10V
■频率，50&plun;3Hz
■功率消耗：≤5W
■尺寸（LxWxH）：280x200x60mm
HS-TRM-100型无接触式电阻率型号测试仪是基于涡流（Eddy Current）测试技术，能够对硅料、硅棒、硅锭及硅片进行无接触、伤的体电阻率测试。
无接触式电阻率型号测试仪-产品特点
■测试范围广，低阻可测至0.001ohm.cm，甚至0.0007ohm.cm，高阻可测至100ohm.cm
■产品体积小，便于移动和携带
■采用涡流法测试硅锭、棒、回炉料体电阻率
■无接触、伤快速测试
■测试前无需表面处理
■对于多晶，能够避免晶界对测试的影响
■测试范围：0.001-100 ohm.cm（分段测试）
■可选加无接触PN型号测试功能
■可进行温度和厚度的修正
无接触式电阻率型号测试仪-技术指标
■硅棒硅块可测量电阻率范围：0.001-100Ohm.cm
■小测试厚度：200μm
■测量时间：2秒/次
■小测试面积：30x30 mm
■推荐使用温度：20℃
■湿度：≤80%
■气压：86-106kPa
■使用电压：230&plun;10V
■频率，50&plun;3Hz
■功率消耗：≤5W
■尺寸（LxWxH）：280x200x60mm
