型号/规格:JZ-LT2型18#$九州空间%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京
产品描述:JZ-LT2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项...
型号/规格:JZ-LT2型18#$九州空间%^19#$制造商%^141#$全新%^20#$北京
产品描述:JZ-LT2型单晶少子寿命测试仪是参考美国 A.S.T.M 标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命。半导体材料的少数载流子寿命测量,是半导体的常规测试项...
型号/规格:WT-20003790#$%^3791#$%^3792#$%^3793#$%^3794#$%^3795#$%^3796#$
产品描述:少子寿命测试仪主要应用于半导体/光电/光伏材料(单晶/多晶硅片及硅锭)的工艺控制及测试手段。通过测量少子寿命,可做出晶体生长及工艺过程引入的缺陷图及硅...
型号/规格:WT-20003790#$%^3791#$%^3792#$%^3793#$%^3794#$%^3795#$%^3796#$
产品描述:少子寿命测试仪主要应用于半导体/光电/光伏材料(单晶/多晶硅片及硅锭)的工艺控制及测试手段。通过测量少子寿命,可做出晶体生长及工艺过程引入的缺陷图及硅...
型号/规格:JT-SZ
产品描述:太阳能多金硅少子寿命测试仪 功能特点:本设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集...
型号/规格:JT-SZ
产品描述:太阳能多金硅少子寿命测试仪 功能特点:本设备是按照标准GB/T1553“硅单晶少数载流子寿命测定的高频光电导衰减法”设计制造。高频光电导衰减法在我国半导体集...
产品描述:产品介绍: HS-CLT少子寿命测试仪是一款功能异常强大的少子寿命测试仪,不适用于硅片少子寿命的测量,更适用于硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等...
产品描述:产品介绍: HS-CLT少子寿命测试仪是一款功能异常强大的少子寿命测试仪,不适用于硅片少子寿命的测量,更适用于硅块、硅棒、硅芯、检磷棒、检硼棒、籽晶等...
型号/规格:DBC-35250#$%^51#$制造商%^129#$全新%^52#$北京
产品描述:晶闸管少子寿命测试仪用于测试可控硅或PN结(二极管)的长基区少子寿命。数字显示测试结果,自动测试。
型号/规格:DBC-35250#$%^51#$制造商%^129#$全新%^52#$北京
产品描述:晶闸管少子寿命测试仪用于测试可控硅或PN结(二极管)的长基区少子寿命。数字显示测试结果,自动测试。
产品描述:产品: HS-MWR-2S-3无接触少子寿命扫描仪是一款功能异常强大的无接触少子寿命扫描仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、伤、高分辨率的...
产品描述:产品: HS-MWR-2S-3无接触少子寿命扫描仪是一款功能异常强大的无接触少子寿命扫描仪,能够对单晶硅棒、多晶硅块及硅片提供快速、无接触、伤、高分辨率的...
型号/规格:WT/MWR系列
产品描述:■可用于硅棒、硅块、硅片的质量控制(单晶硅棒和多晶硅锭去头尾)■可用于电池工艺过程质量控制■可用于实验室和试验线的研发■自动寻找边缘,用于不同形状...
型号/规格:WT/MWR系列
产品描述:■可用于硅棒、硅块、硅片的质量控制(单晶硅棒和多晶硅锭去头尾)■可用于电池工艺过程质量控制■可用于实验室和试验线的研发■自动寻找边缘,用于不同形状...