产品功能：
用以测试太阳能级硅材料和硅片的少数载流子寿命
产品特点：
采用微波光电导衰退法；拥有发明；
采用红外大功率单色激光器；
测试数据一致性好。
主要参数：
测试范围：单片或块状硅材料；扩散形成P-N后的太阳电池
测试方式：无接触，单点测试
少子寿命：0.1um-1ms
测试速度：2秒／点
测试不重复度：≤2％
用以测试太阳能级硅材料和硅片的少数载流子寿命
产品特点：
采用微波光电导衰退法；拥有发明；
采用红外大功率单色激光器；
测试数据一致性好。
主要参数：
测试范围：单片或块状硅材料；扩散形成P-N后的太阳电池
测试方式：无接触，单点测试
少子寿命：0.1um-1ms
测试速度：2秒／点
测试不重复度：≤2％
