热电参数测试系统产品特点
拥有知识产权，获得多项技术。
采用动态法测量Seebeck系数，避免了传统静态测量法在温差测量方面的系统误差，测量更准确。
热电偶不直接和样品接触，避免出现微型热电偶断裂失效的问题 。
炉壳过温报警，自动断电保护。
友好的软件界面，操作简单，实时显示采集数据、测试状态和结果，采用智能化数据存储及处理算法。
热电参数测试系统技术参数
型号 | Namicro-3LT |
温度范围 | RT~800°C |
温控方式 | PID程序控制 |
升温速率 | 50°C/min |
真空度 | ≤50Pa |
测试气氛 | 真空 |
测量范围 | 泽贝克系数：S ≥ 8μV/K； 电阻率：0.1μΩ?m ~ 106KμΩ?m |
分辨率 | 泽贝克系数：0.05μV/K； 电阻率：0.05μΩ?m |
相对误差 | 泽贝克系数 ≤±7%，电阻率 ≤±5% |
测量模式 | 自动 |
样品尺寸 | 块体，长x宽：(2~5) x (2~5)，单位mm；高度：10 ~ 18mm |
主机尺寸 | 1000 x 400 x 500，单位mm |
重量 | 75kg |
热电参数测试系统测试实例
1、康铜样品三次测试数据与美国AIP标准数值对比
2、Namicro-3L、ZEM-3对N型Bi2Te3测试结果对比
3、Namicro-3L、ZEM-3对P型Bi2Te3测试结果对比
4、Namicro-3L、ZEM-3对MgSi测试结果对比（太原理工提供样品）
