TEA采用的光干涉原理技术，可检测块体和薄膜样品透明材料的热膨胀系数，广泛应用于辅助各种新材料，尤其是薄膜材料的研究与开发以及质量检验。
热膨胀系数分析仪技术
自主知识产权产品，拥有多项技术。
基于光干涉原理的技术，通过照射到样品上下表面产生的两束反射光发生干涉，得到光功率随温度的变化曲线，通过计算得到材料的热膨胀系数。
采用PID调节与模糊控制相结合形式控制的红外加热方式，大温区连续、温度跟随、既定程序升温及保持控制。
非接触式检测，测试高。
具备外接抽真空设备、循环水冷设备及载气或制冷能力。
热膨胀系数分析仪技术参数
型号 | TEA-300 | TEA1200 | TEA-1800 |
温度范围 | RT~300℃ | RT~1200℃ | RT~1800℃ |
程序升温重复性偏差 | ＜1.0% | ||
程序升温速率偏差 | ＜1.0% | ||
热膨胀系数测量精密度偏差 | ＜4.5% | ||
热膨胀系数测量正确度偏差 | ＜±15% | ||
工作功率 | 4.0kw | ||
升温速度 | 50℃/s（50℃~1200℃、真空氛围），45℃/s℃/（50℃~1200℃，N?氛围） | ||
温度一致性 | ±2.0℃（1200℃，真空），±4.5℃（1200℃，N?） | ||
制冷要求 | 水冷 | ||
热膨胀分辨率 | 266nm | ||
热膨胀系数分析仪样品要求
尺寸：长×宽5x5~20x20mm2，厚度2.0mm（含基底）以下为宜
适用于透光材料的热膨胀系数检测
具备光学反射双平面
检测样品的热膨胀量≥266nm
热膨胀系数分析仪测试原理
1.入射光 2.光束隔离器 3.投射光 4.待测样品
5.反射光 6.反射光 7.聚光镜 8.滤光片 9.光电传感器
光路原理图
激光器射出的光线经分光镜照射到样品上表面，产生反射光，同时投射光照射到下表面也产生一束反射光，两束反射光在光电探测器处发生干涉，反射光功率发生周期性变化，得到光功率随材料温度的变化曲线，通过计算得到热膨胀系数。
