牛津仪器X-Strata920 X射线荧光镀层测厚仪快速的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，、率.牛冿 OXFORD X-strata 920
适合：PCB行业，电镀行业等做精密测试。可测镀金，银，铜，锡，及金属等
一、用途：
电子行业：
测量PCB、FPC、LED、SMD、连接器、天线、半导体、电阻电容、等元气件，元件性，测量焊料合金成分和镀层厚度，优化质量控制，产品生命期。如：
分析导电性镀层金、钯厚度；测量电脑硬盘上的NiP层的厚度
五金电镀行业：
测量螺栓、螺母、弹簧类紧固件、五金卫浴、汽车部件、功能性电镀件，快速简单的分析，同时进行单层或多层镀层厚度测量和成分分析，多分析4层镀层
其他行业：
测量珠宝、饰、装饰品、合金等的金属合金成分分析、牌号认定，进行材料鉴定
珠宝及合金的分析，进行黄金纯度分析、合金成分分析
测量样品台配置：
固定台
Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制,样品台高度固定，测量样品高度33mm,仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×305mm（电脑和显示器）
加深式样品台
Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴手动控制，样品仓抽屉式设计，4个位置上下可调，每格高度25.4mm，样品高度160mm，样品仓内部尺寸（宽×深×高）：279×508×152mm，仪器外形尺寸（宽×深×高）：407×770×400mm(电脑和显示器)
自定义样品台：依据客户要求提供更高的样品台，满足高度大于160mm的样品测量，仓内抽屉式设计，多个位置上下可调，每格高度25.4mm
全自动样品台
Z轴自动控制，移动行程：43mm (1.7")，XY轴自动控制，可提供对样品的自动和编程控制，多点测量，鼠标控制样品台移动，地定位样品测量点，测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式，样品台移动行程：178×178mm，样品台尺寸：宽610×深560mm，样品高度33mm，仪器外形尺寸：宽610×深1037×高375mm(电脑和显示器)
测试原理：
对被测样品发射一束X射线，样品的原子吸收X射线的能量后被激发并释放出二次X射线。每个化学元素会释放出特定能量的X射线。通过测量这些释放出的二次X射线的特征能量和强度，X射线分析仪就能够对被测材料的镀层厚度和成份提供定性和定量分析。
X射线系统
垂直下照式X射线光学系统，50W(50kV，1.0mA)空冷式微聚焦型钨W靶X射线管，高计数率，分析，到达更小的激发X射线束斑
准直器
