牛津仪器X-Strata920金镍测厚仪快速的X射线荧光镀层厚度测量及材料分析，、率.牛冿 OXFORD X-strata 920，适合：PCB行业，电镀行业等做精密测试。可测镀金，银，铜，锡，及金属等
金厚测试仪CMI900 利用X射线荧光（XRF）进行镀层厚度测量和材料分析，过程和质量控制。
CMI900 X射线荧光镀层测厚仪（膜厚仪）是结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、的镀层厚度测量和材料分析。它在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
分析：无需样品制备，经行业的技术和性，操作简单，要简单的培训，分析三步骤
杰出的分析准确性，在镀层测厚领域拥有过20年的，镀层测厚仪X-Strata系列使用大、操作简单的X射线荧光光谱仪进行镀层厚度测量，质量的同时降。X-Strata系列基于Windows2000中文视窗系统的中文版 SmartLink FP 应用软件包，实现了对CMI900/920主机的自动化控制。
特点及优势
1.测量元素范围：钛Ti22---铀U92；
2.测量5层（4层镀层+底材层）镀层，同时分析15种元素，自动修正X射线重叠谱线；
3.测量高、稳定性好，测量结果至μin；
4.快速测量，测量时间短，10秒内得出测量结果；
5.可分析固体、溶液；定性、半定量和定量分析；
6.进行贵金属检测，如Au karat评价；
7.材料鉴别和分类检测，材料和合金元素分析，元素光谱定性分析；
8.强大的数据统计、处理功能：平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图，数据分组、X-bar/R图表、直方图；
9.结果输出：直接打印或一键导出到PDF、Excel文件；包含数据、图像、统计图表、等；
10.测量位置预览功能；高分辨率彩色CCD样品观察系统，标准光学放大倍数为30倍；
11.激光对焦和自动对焦功能；单击鼠标，Z轴自动扫描，镭射聚焦；
12.拥有NIST的标准片；
提供服务及技术支持。
