X-Strata920-P全自动膜厚测试仪性能：
测厚范围：取决于具体的应用。
测量：
1.膜厚≤20μin时，测量误差值为：层（上层）±1μin，第二层±2μin，第二层±3μin
2.膜厚＞20μin时，测量误差值为：层（上层）±5%，第二层±10%，第二层±15%
X-Strata920-P全自动膜厚测试仪镭射聚焦系统：
1.自动定位X射线光管/探测器与样品到测试距离，
2.单击鼠标，Z轴自动扫描，
3.Z轴自动聚焦到焦距12.7mm，同时将样品图像定焦（显示在屏幕上），
4.一键定焦，避免了人为操作误差
牛津镀层测厚仪X-Strata920：是X射线荧光镀层测厚仪，利用X射线照射产品，产品的不同元素产生不同的X射线荧光，仪器分析X射线荧光的波长和能量，从而计算出不同元素的膜厚。是牛津仪器新开发的新一代镀层测厚仪；是CMI900的升级换代产品，系统软件、硬件均进行了更新。具有非破坏、非接触、测量的能力；一键定焦，避免人为操作误差；快速简洁，需10秒即可得出测量结果；测量输出多样化。标准台面镀层膜厚仪适用于大多数行业，价格优惠，是质量控制、节约成本的检测工具。
X-Strata920-P全自动膜厚测试仪在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。X-Strata920 为这些行业提供了：
1.以更的过程控制来生产力
2有助电镀过程中的生产成本小化、产量化
3快速地分析珠宝及其他合金
4快速分析多达5层镀层
5经行业的技术和性，每年都带来收益
6操作简单，要简单的培训
