- 企业类型：贸易商
- 新旧程度：全新
- 原产地：美国
- 测量范围：1-100
仪器介绍
CMI900荧光X射线镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，快速无损测量，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质量管理到成本节约有着广泛的应用。
适用范围
用于电子元器件，半导体，PCB，FPC，LED支架，汽车零部件，功能性电镀，装饰件，连接器，端子，卫浴洁具，首饰饰品……多个行业表面镀层厚度的测量；
测量镀层，金属涂层，薄膜的厚度或液体（镀液的成分分析）组成。
主要特点
测量范围宽，可检测元素范围：Ti22–U92；
可同时测定5层/15种元素/共存元素较正；
高、稳定性好；
强大的数据统计、处理功能；
NIST的标准片；
服务及支持。
主要规格 规格描述 X射线激发系统 垂直下照式X射线光学系统 空冷式微聚焦型X射线管，Be窗 标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等 功率：50W(4-50kV，0-1.0mA) 装备有安全防射线光闸 二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选 准直器系统 单准直器组件 多准直器自动控制组件：多可同时装配6种规格的准直器 多种规格尺寸准直器任选： －圆形，如4、6、 8、 12、13、20 mil等 即0.102、0.152、0.203、0.305、0.330、0.508mm －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16mil等 即0.025*0.05、0.05*0.05、0.013*0.254、0.025*0.254、0.051*0.254、0.102*0.406mm 测量斑点尺寸 在12.7mm聚焦距离时，小测量斑点尺寸为：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm<即1x2mil>准直器) 在12.7mm聚焦距离时，测量斑点尺寸为：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm<即圆形12mil>准直器) 样品室 开槽式样品室 样品台尺寸 610mm x 610mm XY轴移动范围 标准：152.4 x 177.8mm<程控> Z轴程控移动高度 43.18mm XYZ轴控制方式 多种控制方式任选： XYZ三轴程序控制； XY轴手动控制和Z轴程序控制； XYZ三轴手动控制 样品观察系统 高分辨彩色CCD观察系统，标准放大倍数为30倍。 50倍和100倍观察系统任选。 激光自动对焦功能 可变焦距控制功能和固定焦距控制功能 计算机系统配置 IBM计算机 惠普或爱普生彩色喷墨打印机 分析应用软件 操作系统：Windows XP中文平台 分析软件包：SmartLink FP软件包 测厚范围 可测定厚度范围：取决于您的具体应用。 基本分析功能 采用基本参数法校正。牛津仪器将根据您的应用提供必要的校正用标准样品； 样品种类：镀层； 可检测元素范围：Ti22 – U92； 可同时测定5层/15种元素/共存元素校正； 贵金属检测，如Au karat评价； 材料和合金元素分析； 材料鉴别和分类检测； 多达4个样品的光谱同时显示和比较； 元素光谱定性分析。 调整和校正功能 系统自动调整和校正功能，自动消除系统漂移 测量自动化功能 鼠标激活测量模式：“Point and Shoot” 多点自动测量模式：随机模式、线性模式、梯度模式、扫描模式、重复测量模式 测量位置预览功能 激光对焦和自动对焦功能 样品台程控功能 设定测量点 连续多点测量 测量位置预览(图表显示) 统计计算功能 平均值、标准偏差、相对标准偏差、值、小值、数据变动范围、数据编号、CP、CPK、控制上限图、控制下限图 任选软件：统计编辑器允许用户自定义多媒体书 数据分组、X-bar/R图表、直方图 数据库存储功能 系统安全监测功能 Z轴保护传感器 样品室门开闭传感器 |
