单排IC集成电路老化测试座 该系列插座适用于DIP封装的单排直插式集成电路的老化、测试、筛选及性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、、科研院所、电子、通讯 产品型号及规格; IC-10J IC-21J 主要技术指标; 材料:陶瓷 磷青铜 间距;2.54mm 环境温度;-55℃—+255℃ 接触电阻;≤0.01欧 工作电压;DC500V 单脚力;≤0.2Kg 弹片金层厚度;1um镍3um金 插拔寿命;高低温状态下插拔寿命;2000-3000次
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单排IC集成电路老化测试座 该系列插座适用于DIP封装的单排直插式集成电路的老化、测试、筛选及性试验作连接之用。该产品广泛运用于航空航天、、科研院所、电子、通讯 产品型号及规格; IC-10J IC-21J 主要技术指标; 材料:陶瓷 磷青铜 间距;2.54mm 环境温度;-55℃—+255℃ 接触电阻;≤0.01欧 工作电压;DC500V 单脚力;≤0.2Kg 弹片金层厚度;1um镍3um金 插拔寿命;高低温状态下插拔寿命;2000-3000次