CDNY-03AM 光学膜层厚度测量控制仪
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有强的抑制能力。
主要性能指标及技术指标
主信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入量程：0.5mV-500mV
信号频率范围：1KHz&plun;5％
本机频相噪声：≤4nV／Hz（折合到输入端）
性误差：≤0.1％
点时源：≤0.2％／h
参考信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入幅度：20-700mV
频率范围：≥320.
CDNY-03AM是专为光学镀膜设计的新一代光学膜层厚度测量控制仪。本仪器由于采用窄带频率技术，因而对信号谐波和直流漂移具有强的抑制能力。
主要性能指标及技术指标
主信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入量程：0.5mV-500mV
信号频率范围：1KHz&plun;5％
本机频相噪声：≤4nV／Hz（折合到输入端）
性误差：≤0.1％
点时源：≤0.2％／h
参考信号通道：
信号输入方式：单端交流输入
输入幅度：20-700mV
频率范围：≥320.
