特性--I的功能：
◆短的数秒钟内，全检出组装电路板（loaded PC board）上件-电阻、电容、电感、电晶体、二体、稳压二体、光偶器、继电器等件，是否在我们设计的规格内运作。
◆先期找出制程不良所在，如漏件（missing part）、折脚（bending）、短路（short）、锡桥（bridge）、反向（miss-oriented）、错件（wrong part）、开路（open）、焊接不良等问题，回馈到制程的。
◆述故障或不良资讯以印表机印出测试结果，包括故障位置、件标准值、测试值，以供维修人员参考。可以降低人员对产品技术依赖度，不需对产品线路了解，照样有维修能力。
配备 EC Jet 测试技术，电解电容性测试：
以来，电解电容性（Polarity）测试一直是品保人员心中的痛。电解电容的反插在PCB上形同潜藏的不，不知何时有爆裂的危险。传统I对电解电容性测试可测率30~50%，不但测试时间长，且漏判率高，而采用人工目视检查亦同样耗时而不。
针对实装电路板电解电容性和并联电容漏件测试，提出整体解决方案，可测率趋近于100%，测试速度快而，真正解决您生产线电解电容测试的问题。针对电解电容，可测率趋近100%固态爆电解电容性趋近100%测试并联电解电容漏件测试
人性化Windows介面，操作简单、上手容易
强大的板示功能（Board View）
测试时可即时图形显示不良元件、脚位及针点位置，编辑时可随点随选或手动输入件编号、脚位、短/开路不良群组、网点列表等，方便问题查找及维修。
五线式测试技术，可测四端元件
传统二线、三线测试技术，均只能作较粗略之量测，易造成量测的角。本公司机种采用五线式（5 wir）测试技术（2 wir信号，2 wir测量表头，1 wire Guarding），可快速、量测。
ATPD自动测试程式除错
ATPD自动测试程式除错（Automatic Tting Program Debug），大幅节省DUT测试程式制作时间。
完善统计分析报表，监控生产品质
针对被测板可作每日、每月或特定期间之测试资料统计分析。根据不良件、不良针点排行，能很快找到生产问题点所在，地如针床品质、DUT品质等生产问题之监控。
强全自动学习功能（ATPD）
可快速完成程式调试，节约程式调试时间；的连板展开及子板侦测功能，连板展开后无需调试，子板侦测可实现对连板中缺板或无着件板自动删略测试
微电阻精密测试
使用四线测试技术可消除通道和针点接触电阻，测试稳定，小可测试0.05欧姆电阻。
完善的自我检测功能，开机即对设备的量测卡、开关卡和I/O卡自检，测试前设备的良好性。
S（option）----测试特点及系统选择
可搭配S（Shop-Floor Information System）现场管理软体连线
单步10个隔离点，对待测体信号源分流提供了更强的隔离效果，了测试的稳定。
预留S系统、条码扫描、方位监控、盖章功能、保护等接口，客户可根据需求进行选购。
◆短的数秒钟内，全检出组装电路板（loaded PC board）上件-电阻、电容、电感、电晶体、二体、稳压二体、光偶器、继电器等件，是否在我们设计的规格内运作。
◆先期找出制程不良所在，如漏件（missing part）、折脚（bending）、短路（short）、锡桥（bridge）、反向（miss-oriented）、错件（wrong part）、开路（open）、焊接不良等问题，回馈到制程的。
◆述故障或不良资讯以印表机印出测试结果，包括故障位置、件标准值、测试值，以供维修人员参考。可以降低人员对产品技术依赖度，不需对产品线路了解，照样有维修能力。
配备 EC Jet 测试技术，电解电容性测试：
以来，电解电容性（Polarity）测试一直是品保人员心中的痛。电解电容的反插在PCB上形同潜藏的不，不知何时有爆裂的危险。传统I对电解电容性测试可测率30~50%，不但测试时间长，且漏判率高，而采用人工目视检查亦同样耗时而不。
针对实装电路板电解电容性和并联电容漏件测试，提出整体解决方案，可测率趋近于100%，测试速度快而，真正解决您生产线电解电容测试的问题。针对电解电容，可测率趋近100%固态爆电解电容性趋近100%测试并联电解电容漏件测试
人性化Windows介面，操作简单、上手容易
强大的板示功能（Board View）
测试时可即时图形显示不良元件、脚位及针点位置，编辑时可随点随选或手动输入件编号、脚位、短/开路不良群组、网点列表等，方便问题查找及维修。
五线式测试技术，可测四端元件
传统二线、三线测试技术，均只能作较粗略之量测，易造成量测的角。本公司机种采用五线式（5 wir）测试技术（2 wir信号，2 wir测量表头，1 wire Guarding），可快速、量测。
ATPD自动测试程式除错
ATPD自动测试程式除错（Automatic Tting Program Debug），大幅节省DUT测试程式制作时间。
完善统计分析报表，监控生产品质
针对被测板可作每日、每月或特定期间之测试资料统计分析。根据不良件、不良针点排行，能很快找到生产问题点所在，地如针床品质、DUT品质等生产问题之监控。
强全自动学习功能（ATPD）
可快速完成程式调试，节约程式调试时间；的连板展开及子板侦测功能，连板展开后无需调试，子板侦测可实现对连板中缺板或无着件板自动删略测试
微电阻精密测试
使用四线测试技术可消除通道和针点接触电阻，测试稳定，小可测试0.05欧姆电阻。
完善的自我检测功能，开机即对设备的量测卡、开关卡和I/O卡自检，测试前设备的良好性。
S（option）----测试特点及系统选择
可搭配S（Shop-Floor Information System）现场管理软体连线
单步10个隔离点，对待测体信号源分流提供了更强的隔离效果，了测试的稳定。
预留S系统、条码扫描、方位监控、盖章功能、保护等接口，客户可根据需求进行选购。
其他说明
| 项目 | 功能 | 规格 | Q998 |
| 测试点数 | 标准配置 | 256 | |
| 点数 | 1024 | ||
| 可扩充65,536点 | √ | ||
| 开关卡 | CMOS+Relay | 每一信道卡128个信道 | 选购 |
| CMOS+放电Relay | 每一信道卡64个信道 | √ | |
| 全Relay | 每一信道卡64个信道 | √ | |
| 隔离点 | 每一测试有10个 | √ | |
| 测试信号源(可程序) | DC电压 | &plun;10mV~&plun;7.5V或15V | √ |
| AC电压 | 10mVPP~10VPP | √ | |
| AC/DA电压 | 10uA~20mA | √ | |
| 测试频率 |
120, 1020, 10K, 100KHz, 2MHz(60MHz) 100,1000,10K, 100KHz, 2MHz(50MHz) |
√ | |
| 测试步骤 | 无限制 | √ | |
| 测试速度 | 每一组件:2mS~4mS | √ | |
| 开/短路0.5秒/1,024点 | √ | ||
| 测试范围 | 电阻 | 0.5Ω~100MΩ(二线式)&plun;1%~5% | √ |
| 电容 | 1pF~40mF&plun;2%~5% | √ | |
| 电感 | 1uH~50H&plun;2%~5% | √ | |
| 二管 | 0.1~6V&plun;1%~3% | √ | |
| 稳压二管 | 0.1~12V&plun;1%~3% | √ | |
| 电晶体 | 三端测试Vce饱和电压及β值 | √ | |
| 场效电晶体 | 三端测试Vds,Cds&Rd(on) | √ | |
| 光耦器及继电器 | 四端测试其导通压或电阻 | √ | |
| 阻串并联 | 采用多频测试及相位分离法(8°~82°) | √ | |
| EC Jet | C电容性鉴别技术/ 并联EC电容漏件 | √ | |
| TA Jet |
T IC, BGA, 南北桥,SCSI/PCI D Conneor, 开/短路及空焊测试 |
- | |
| 测试功能 | 二级(稳压)管 | 升压至15V | √ |
| 电阻(四线式) | 小50mΩ(四线式)&plun;1%~5% | √ | |
| DR Mode | 可测二管或IC漏件及空焊检测 | √ | |
| 开/短路 | O/S进阶参数设定 | 选购 | |
| 二级(稳压)管 | 新增CV, CVIL, CIVL,测试模式 | 选购 | |
| 电容性漏件 | 二端漏电流 | 选购 | |
| D Mode | 小量测电流1uA | 选购 | |
| PIC Mode | Power IC测试 | - | |
| CDS Mode | 可测发光二管亮度 | - | |
| 按键功能 | 配合人工操作检测按键 | - | |
| V Mode | 量测供电后之电压 | - | |
| I Mode | 量测供电后之电流 | - | |
| Tol Rate | 修正功能 | - | |
| 硬件功能 | 自动盖章 | 测试P or Fail 自动盖章设备 | 选购 |
| 监控放置 | 监控放置方位(P与Fail分流) | - | |
| 程序启动压床 | I程序启动时压床方可动作 | 选购 | |
| 多压床 | 多或双压床系统 | - | |
| 直通率监控 | 当直通率 | - | |
| 软件功能 | 一般功能 | ICDSheet | √ |
| 板示功能(Board View) | √ | ||
| 连板功能 | √ | ||
| 修改直通率 | 选购 | ||
| 板示自动生成 | 选购 | ||
| 子板选测 | 选购 | ||
| 条形码控制 | 选购 | ||
| 多连片条形码控制与识别 | 选购 | ||
| 自动DUT | 选购 | ||
| 测试值存档(基本测试值栏) | 选购 | ||
| 输出可测率分析表 | 选购 | ||
| 多连板条形码检测条形码重测 | 选购 | ||
| S(Shop-Floor Information System) | Yi-Tek S(周易) | - | |
| ShineWave S(翔威) | - | ||
| Sajet S(僯) | - | ||
| Off-line S(依客户需求) | - | ||
| 语言支持 | 支持简,英,韩等国语言 | 选购 | |
| 汇入他厂文件 | TRI(德律),JIET(捷智) | √ | |
| Adsys&NewSys(系新),BOS360(系统) | 选购 | ||
| SRC(星河),Concord(振华) | 选购 | ||
| OKA, TCON, TC5,TC100 | 选购 | ||
| 汇出档案 | TRI(德律),TEXT(文字文件) | 选购 | |
| Adsys&NewSys(系新)V5.2X, V6.XX, V8.XX | 选购 | ||
|
大电流 讯号源 (可程序) |
DC电压 | &plun;10mV~&plun;7.5V或15V | - |
| AC电压 | 10mVPP~15VPP | ||
| AC/DA电压 | 10uA~150mA | ||
| 测试频率 |
120, 1020, 10K, 100KHz, 2MHz(60MHz) 100,1000,10K, 100KHz, 2MHz(50MHz) |
||
| 开机测试 | 在小功率的DUT,可量测其电压电流 | - | |
| 功率电晶体 | 三端测试Vce饱和电压及β值 | - | |
| 功率场效电晶体 | 三端测试Vds,Cds&Rd(on) | - | |
| 光耦器及继电器(高电流) | 四端测试其导通压或电阻 | - | |
| 振动马达 | 二端电流法(量测手机之振动马达) | - | |
| 大电压讯号源(可程序) | DC电压 | &plun;30mV~&plun;30V或60mV~60V | - |
| DC电流 | 500uA~100mA | - | |
| 高压稳压二管 | 0.1~60V&plun;1%~3%(CVIL) | - | |
| 电信高压量测 | 电信终端之讯号 | - | |
| I²C Host Adaptor | On Board烧录(Program write/Verifier) | - | |
| 主处理机(选购) |
CPU: Pentium1V以上/ RAM: 2GB / H.D.D : 80G 显示器:19"LCD及支撑架 |
||
| 操作系统(选购) | Windows XP | ||
| 客户可自行搭售 |
EPSON TM220PD双色打印机 开关 ... |
||
