NIR-01-3D红外探伤测试仪

　　NIR-01-3D型红外探伤测试仪是采用欧洲CNC工程铝合金材料，其表面都采用了度漆面和电氧化工艺保护，系统外框采用高质量工业设计，的部件的设计都了长期度使用及小维护量的要求，做到的稳定性和耐用性。
　　技术特点：
　　■自动化程度更高，测试效果更好
　　■采用铟镓砷传感器，而厂家采用固定值的模拟摄像管，具有硬件图像校正和计算机参数控制的功能（包括亮度，伽马，积分时间），其灵敏度好，探伤结果与实际情况一致性佳。不需为不同尺寸的硅块设置不同的硬件参数（探伤位置，聚焦点，校准）
　　■我们的软件系统为不同硅块的表面情况及尺寸提供设置菜单，没有要在硬件上进行设置（当然我们也可以从硬件上进行设置）。
　　■光源探照同质区域为300×330mm/550mm，我们采用了扩散板材料，了在没有图像处理的情况也能成像质量。
　　
　　■测试范围更广
　　■不可以探测标准尺寸的硅块，而且可以探测任何尺寸的硅块，没有光源照射区域限制。
　　■也可直接对未抛光的硅块进行直接探测。
　　■寿命更长
　　■红外照相机3年保修或更换的
　　■我们采用的是的含有冷却单元的工业级镀金近红外卤管，了光源的耐用性，设备已经不采用普通卤管设计，我们提供了强致冷却单元，为设备的正常使用提供了的冷却单元，大大延长了仪器的使用寿命。
　　■的部件的设计都了长期度使用及小维护量的要求
　　■即使在高照明的条件下，我们的相机传感器也几乎没有退化的情况。
　　■有多年在欧洲生产销售应用的经验，产品具有优良的工业应用性。
　　■检测更快
　　■检测速度快，自动四面检测<1分钟，快速两面检测<20秒，一面<5秒
　　■系统大
　　■可定制硅块缝合复原功能
　　■可定制硅块尺寸测试模块
　　■可根据客户需求进行功能模块定制，包括硅锭晶体生长情况进行工艺分析
　　■可定制在线生产模式
　　■可定制砷化镓磷化铟等其他半导体材料的探伤检测
　　■可定制中文操作系统界面。
　　
　　技术指标：
　　■主要探测指标：裂缝，黑点，夹杂（通常为SiC），隐裂，微晶
　　■硅块电阻率：≥0.5Ohm*Cm（推荐）
　　■检测时间：平均每个硅块小于1分钟，两面小于20秒，一面小于5秒
　　■硅块尺寸：210mmx210mmx420mm
　　■分辨率：320px*256px（早生产的产品）
　　640 px*512px（目前市场供应）
　　1280 px*1024px（2010年12月份批量生产）
　　2560 px*2048px（行业，2011年1-3月份批量生产）
　　■旋转台
　　■采用单轴伺服电机
　　■承载量：40kg
　　■具有过流保护以损伤和电机烧毁
　　■无步进损失，高分辨率解码机器
　　■红外光源
　　■度NIR卤灯，273mm加热波长
　　■功率：230V，1000W
　　■温度：25-60摄氏度
　　■光强可通过软件控制
　　■软件具有过热保护
　　■观测仪
　　■采用红外CCD控温
　　■12位ADC
　　■频率：60Hz和100Hz两个选择
　　■像素间距：30μm
　　■可手动调节红外镜头
　　■测试样品
　　■测试硅块尺寸：210mmx210mmx420mm
　　■一套硬件装备可以检测尺寸的硅块
　　■适用于不同的表面质量和厚度的硅块
　　■适用于抛光面和裸面，抛光面探测效果更佳
　　■电阻率：≥0.5Ohm*Cm（推荐）。
　　
　　■应用
　　■裂缝，黑点，夹杂（通常为SiC），隐裂，微晶
　　■软件（基于WIN XP）
　　■可从四个方向进行自动取样
　　■可快速进行样块的快速测量
　　■软件会对探测结果进行评价
　　■可对检测参数进行灵活设置
　　■可进行像素管理和图像处理
　　■系统将对探测结果进行三维立体描绘。