目前产品有：
150mm：PM5（手动）、EP6 RF（手动）、EP6 DC（手动）、M150（手动）。（其中PM5、EP6为原SUSS产品，M150为原Cascade，但M150已停产）。
200mm：PM8（手动）、Summit（半自动）、AP200（半自动）、The BlueRay Probe System（全自动）、AP200 BlueRay Probe System（全自动）、PA200 Semiautomatic Probe System（半自动）。
300mm：Elite 300、PA300、PA300ProbeShield 3D、PM300.
其他探针台：EDGE 1/f Noise（精密噪声测试，一款配置了仪器的设备）、Power Device（高电压测试设备）、Wafer-Level Reliability、Vacuum probe System（真空）、Cryogenic probe Sysgtem（低温）、Pressure probe System（高压）、Double Side probe System（双面）等等
特征与优点
包括用于低噪声和光敏测试的光屏蔽版本和电磁屏蔽版本
应用灵活，是理想的高频应用测试工具
内部空间可容纳探针系统上的温控卡盘、激光切片及视频设备
可与SUSS的振台集成
SE1000/1200于探针系统，无振动影响
150mm：PM5（手动）、EP6 RF（手动）、EP6 DC（手动）、M150（手动）。（其中PM5、EP6为原SUSS产品，M150为原Cascade，但M150已停产）。
200mm：PM8（手动）、Summit（半自动）、AP200（半自动）、The BlueRay Probe System（全自动）、AP200 BlueRay Probe System（全自动）、PA200 Semiautomatic Probe System（半自动）。
300mm：Elite 300、PA300、PA300ProbeShield 3D、PM300.
其他探针台：EDGE 1/f Noise（精密噪声测试，一款配置了仪器的设备）、Power Device（高电压测试设备）、Wafer-Level Reliability、Vacuum probe System（真空）、Cryogenic probe Sysgtem（低温）、Pressure probe System（高压）、Double Side probe System（双面）等等
特征与优点
包括用于低噪声和光敏测试的光屏蔽版本和电磁屏蔽版本
应用灵活，是理想的高频应用测试工具
内部空间可容纳探针系统上的温控卡盘、激光切片及视频设备
可与SUSS的振台集成
SE1000/1200于探针系统，无振动影响
