产品简介
大型样品室，分析型物镜，可同时接配EDS/WDS/EBSD，在观察精细形貌同时，做化学成分和晶体结构定性定量分析。涡轮分子泵真空系统，操作维护简单方便。
CX-200TM标配SE探测器，观察表面精细形貌形态；可选配BSE探测器，观察材料成分反差像，同时可扩展低真空观察模式，非导电样品可直接观察；可选配全套的X射线微区分析附件（EDS、WDS，EBSD）原位实现化学成分定性定量，及微区晶体结构定性定量分析。
技术参数：
分辨率：3.0nm（30kV，SEI）10nm（3KV，SEI）
4.0nm（30kV，BSEI）
放大倍数：10x~300，000x
加速电压 0.5kV~30kV
样品室：内径φ210mm，可接配EDS，BSE，WDS EBSD等分析附件。
样品台及行程：五轴样品台，Z轴为自动，其余手动
X：65㎜，Y：40㎜，Z：5~65㎜，T：-20°~＋90°，R：360°
样品尺寸：160mm（直径）X 71mm（高度） 真空系统：带护的自动高真空系统，涡轮分子泵260升/秒＋旋片式机械泵100L/min
真空度实时显示。
高真空：样品室处真空度7.5x10-5 Torr，
低真空：样品室 1-270Pa
大型样品室，分析型物镜，可同时接配EDS/WDS/EBSD，在观察精细形貌同时，做化学成分和晶体结构定性定量分析。涡轮分子泵真空系统，操作维护简单方便。
CX-200TM标配SE探测器，观察表面精细形貌形态；可选配BSE探测器，观察材料成分反差像，同时可扩展低真空观察模式，非导电样品可直接观察；可选配全套的X射线微区分析附件（EDS、WDS，EBSD）原位实现化学成分定性定量，及微区晶体结构定性定量分析。
技术参数：
分辨率：3.0nm（30kV，SEI）10nm（3KV，SEI）
4.0nm（30kV，BSEI）
放大倍数：10x~300，000x
加速电压 0.5kV~30kV
样品室：内径φ210mm，可接配EDS，BSE，WDS EBSD等分析附件。
样品台及行程：五轴样品台，Z轴为自动，其余手动
X：65㎜，Y：40㎜，Z：5~65㎜，T：-20°~＋90°，R：360°
样品尺寸：160mm（直径）X 71mm（高度） 真空系统：带护的自动高真空系统，涡轮分子泵260升/秒＋旋片式机械泵100L/min
真空度实时显示。
高真空：样品室处真空度7.5x10-5 Torr，
低真空：样品室 1-270Pa
