尺寸 190 x 265 x 316 mm
重量 12Kg
类型 手动的
测量样本大小 ≤ 4"
测量方法 非接触式
测量原理 反射计
特征 测量，操作简单
非接触式，非破坏方式
的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射
活动范围 150 x 120mm（70 x 50mm 移动距离）
测量范围 200Å～ 35㎛（根据膜的类型）
光斑尺寸 20㎛ 典型值
测量速度 1～2 sec。／site
应用领域 聚合体： PVA， PET， PP， PR 。。。
电解质：
半导体： Poly-Si， GaAs， GaN， InP， ZnS。。。
选择 参考样品（K-MAC or KRISS or NIST）
探头类型 三目探头
nosepiece Quadruple Revolving Mechani with Inward Tilt
照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device ＆ Transformer
重量 12Kg
类型 手动的
测量样本大小 ≤ 4"
测量方法 非接触式
测量原理 反射计
特征 测量，操作简单
非接触式，非破坏方式
的重复性和再现性
用户易操作界面
每个影像打印和数据保存功能
可测量多达3层
可背面反射
活动范围 150 x 120mm（70 x 50mm 移动距离）
测量范围 200Å～ 35㎛（根据膜的类型）
光斑尺寸 20㎛ 典型值
测量速度 1～2 sec。／site
应用领域 聚合体： PVA， PET， PP， PR 。。。
电解质：
半导体： Poly-Si， GaAs， GaN， InP， ZnS。。。
选择 参考样品（K-MAC or KRISS or NIST）
探头类型 三目探头
nosepiece Quadruple Revolving Mechani with Inward Tilt
照明类型 12V 35W Halogen Lamp Built-in Control Device ＆ Transformer
