WISDOM-6000A型X荧光分析仪采用色散X荧光分析技术,其原理是样品在受到X光照射时,其中所含元素的原子受到激发后会发射出各自特征X射线,利用国际的原装的高分辨率探测器探测到这些特征X射线,根据测量到谱峰的能量信息即可以判断元素的种类;根据谱峰的强度就可以分析出各元素的含量。
其他说明
分析元素 | 常见含量范围(%) | 标准偏差S(%) | 准确度标准偏差S(%) |
SIO2 | 9.00-17.00 | 0.04 | 0.08 |
AL2O3 | 2.00-4.00 | 0.04 | 0.05 |
FE2O3 | 2.00-4.00 | 0.02 | 0.05 |
CAO | 39.00-47.00 | 0.04 | 0.08 |
MGO | 0.5-3.0 | 0.04 | 0.08 |
SO3 | 0.5-2.00 | 0.02 | 0.05 |
K2O | 0-1.00 | 0.02 | 0.04 |
NA2O | 0-0.50 | 0.01 | 0.04 |
CL- | 0-0.02 | 0.001 | 0.001 |
TIO2 | 0-1.00 | 0.01 | 0.02 |