THICK-900A型X荧光镀层测厚仪采用X荧光分析技术，可以测定各种金属镀层的厚度，包括单层、双层、多层及合金镀层等，可以进行电镀液的成分和浓度测定。
THICK-900A型X荧光镀层测厚仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自特征的X射线，不同的元素有不同的特征X射线、探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号变为模拟信号，经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理，计算机的应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的各类及各元素的镀层厚度。
分析元素范围：S-U
无需复杂的样品预处理过程，测试
检出限可2PPM
分析测量动态范围宽，可从0.005UM-60UM
采用美国原装国际的探测器，能量分辨率高
采用美国原装国际的AMP，处理速度快，高，稳定
X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示
采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品
采用电动无控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便
采用双激光对焦系统，准确定位测量位置
保护传感器，保护探测器
度高，稳定性好，故障率低‘
辐射系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线护系统多层屏蔽保护，辐射性
WINDOWS XP中文应用软件，的分析方法，强大的功能，扣件简单，使用方便
THICK-900A型X荧光镀层测厚仪是能谱分析方法，属于物理分析方法。样品在受到X射线照射时，其中所含镀层或基底材料元素的原子受到激发后会发射出各自特征的X射线，不同的元素有不同的特征X射线、探测器探测到这些特征X射线后，将其光信号变为模拟信号，经过模拟数字变换器将模拟电信号转换为数字信号并送入计算机进行处理，计算机的应用软件根据获取的谱峰信息，通过数据处理测定出被测镀层样品中所含元素的各类及各元素的镀层厚度。
分析元素范围：S-U
无需复杂的样品预处理过程，测试
检出限可2PPM
分析测量动态范围宽，可从0.005UM-60UM
采用美国原装国际的探测器，能量分辨率高
采用美国原装国际的AMP，处理速度快，高，稳定
X光管采用正高压激发，激发与测试条件采用计算机软件数码控制与显示
采用彩色摄像头，准确观察拍摄样品
采用电动无控制样品平台，可以进行X-Y-Z的移动，准确方便
采用双激光对焦系统，准确定位测量位置
保护传感器，保护探测器
度高，稳定性好，故障率低‘
辐射系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线护系统多层屏蔽保护，辐射性
WINDOWS XP中文应用软件，的分析方法，强大的功能，扣件简单，使用方便
