EDX-280型 X荧光分析仪具有分析高、测试速度快、测试简单等优点。可满足RoHS/WEEE相关管控要求，合国际电工委员会IEC62321标准及中国标准所规定的技术要求和技术规范。
u 应用领域
1.检测以铜合金、铁合金、及其它合金类产品:铅黄铜、镍黄铜、锰黄铜、锡黄铜、锡青铜、镍白铜、锌白铜等样品.
2．分析Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As等元素。
3．对RoHS指令中有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）进行精准测试及无卤测试。
4．金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定分析。
u 性能特点
1.检测样品为规则样品与不规则样品，包括块状、片状、线状。样品类型为塑胶、金属、粉末、液体。
2.高压电源。功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-10uA。
3.X光管。功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-10uA。
4.原装电制冷Si-Pin探测器。良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。
5.高信噪比的电子线路系统。
6.八个准直器和四个滤光片的电动组合，软体自动切换，满足各种测试方式的应用，降低分析元素附近的背景强度，分析限。
7.多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的抑制，分析准确度。
8.内置高清晰摄像头，的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作为检测的组成部分。
9.载物测试平台，配有微调装置，实现检测物的定位与检测区域的理想调整。
10.小样品腔尺寸(闭仓门测试)：460×298×150mm。大样品腔尺寸(开仓门测试)：无限制，部分取代手持式功能。
1.三维散热系统：大幅度提供仪器的性、稳定性。
12.辐射系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线护系统。
13. 分析软件：国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，测试数据的准确性。
u 技术指标
1.测量元素范围：从硫（S）到铀（U）。
2.元素含量分析范围： ppm—9.9%（不同元素，分析范围不同）。
3.同时分析元素：性可测几十种元素。
4.测量时间：60秒-20秒。
5.样品类型：塑胶、金属、粉末、液体。
6.检出下限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm 。
7.工作环境：温度为温度 15～30℃ 湿度 ≤85% （不结露）。
8.电源：交流20V&plun;5V,选配高参数稳压电源。
9.分辨率能149eV&plun;5。
10.样品腔尺寸：460×298×150mm。
1. 外观尺寸：50×416×3mm。
12.电源：AC 20V～240V、50Hz。
13.额定功率：80W。
14.重量：约45KG.
u 主体配置
1.薄窗X光管（W或Mo靶）。
2.高压电源。
3.原装美国电制冷Si-Pin半导体探测器。
4.大样品测量腔。
5.移动平台。
6.光路增强系统。
7.高信噪比电子线路系统。
8.高清晰摄像头。
9.自动切换型准直器和滤光片。
10.三重保护模式。
1.整体钢架结构，力度的。
12.计算机、液晶显示器、激光打印机。
13.分析软件。
14.标准物质：银校正标样等。
15.仪器的其它配置：样品杯 、测试薄膜、保险丝。
u 应用领域
1.检测以铜合金、铁合金、及其它合金类产品:铅黄铜、镍黄铜、锰黄铜、锡黄铜、锡青铜、镍白铜、锌白铜等样品.
2．分析Cu、Pb、Fe、Ni、Mn、Zn、Sn、Bi、Sb、As等元素。
3．对RoHS指令中有害元素（Pb，Cd，Hg，Br，Cr）进行精准测试及无卤测试。
4．金属镀层的厚度测量、电镀液和镀层含量的测定分析。
u 性能特点
1.检测样品为规则样品与不规则样品，包括块状、片状、线状。样品类型为塑胶、金属、粉末、液体。
2.高压电源。功率50 W。电压0 -50 KV，电流0-10uA。
3.X光管。功率50W，管压5-50KV ；管流电流0-10uA。
4.原装电制冷Si-Pin探测器。良好的能量线性、能量分辨率和能谱特性，较高的峰背比。
5.高信噪比的电子线路系统。
6.八个准直器和四个滤光片的电动组合，软体自动切换，满足各种测试方式的应用，降低分析元素附近的背景强度，分析限。
7.多参数线性回归方法，使元素间的吸收、增应得到明显的抑制，分析准确度。
8.内置高清晰摄像头，的实时观察测试区域状况，并拍下物料照片，作为检测的组成部分。
9.载物测试平台，配有微调装置，实现检测物的定位与检测区域的理想调整。
10.小样品腔尺寸(闭仓门测试)：460×298×150mm。大样品腔尺寸(开仓门测试)：无限制，部分取代手持式功能。
1.三维散热系统：大幅度提供仪器的性、稳定性。
12.辐射系统：隐蔽式设计、软件、硬件三重射线护系统。
13. 分析软件：国际的XRF分析软件，融合了包括经验系数法、基本参数法（FP法）、理论α系数法等多种经典分析方法，测试数据的准确性。
u 技术指标
1.测量元素范围：从硫（S）到铀（U）。
2.元素含量分析范围： ppm—9.9%（不同元素，分析范围不同）。
3.同时分析元素：性可测几十种元素。
4.测量时间：60秒-20秒。
5.样品类型：塑胶、金属、粉末、液体。
6.检出下限：Cd/Cr/Hg/Br≤2 ppm, Pb≤5 ppm 。
7.工作环境：温度为温度 15～30℃ 湿度 ≤85% （不结露）。
8.电源：交流20V&plun;5V,选配高参数稳压电源。
9.分辨率能149eV&plun;5。
10.样品腔尺寸：460×298×150mm。
1. 外观尺寸：50×416×3mm。
12.电源：AC 20V～240V、50Hz。
13.额定功率：80W。
14.重量：约45KG.
u 主体配置
1.薄窗X光管（W或Mo靶）。
2.高压电源。
3.原装美国电制冷Si-Pin半导体探测器。
4.大样品测量腔。
5.移动平台。
6.光路增强系统。
7.高信噪比电子线路系统。
8.高清晰摄像头。
9.自动切换型准直器和滤光片。
10.三重保护模式。
1.整体钢架结构，力度的。
12.计算机、液晶显示器、激光打印机。
13.分析软件。
14.标准物质：银校正标样等。
15.仪器的其它配置：样品杯 、测试薄膜、保险丝。
