真正一台完整而具有“性价比”的半导体元件自动化测试系统，
能测试从毫瓦(mW)到千瓦(kW)级全功率系统的多种半导体元件！
特点：
☆ 可检测12种半导体元件的参数多达135个；
☆ 可单机独立操作，测试范围达2500V及50A；
☆ 具有自我校正及自我测试诊断之功能；
☆ 外接大电流机箱或高压装置，检测范围可扩展至4800A及10KV；
☆ 具有USB接口，可外接PC、打印机、数据记录器；
☆ 测试程序可储存及重复使用；
☆ 错误或损坏的元件，在未进入参数测试前，便可被自动筛除；
☆ 提供全自动好/坏判别或参数上的测量；
☆ 提供Windows PC Curve Tracer特性曲线软件（选购）；
☆ 具有机械手接口，可供大量生产测试；
☆ 任何管脚错误的连接，均可在启动时，安全快速地检测到，且自动停止测试动作；
☆ 测试程序的产生，采用填充式的引导方式；
☆ 测试光耦输出端为三极管或交直流可控硅的元件；
☆80μs~300μs脉冲测试间隔，可防止元件过热造成的数据漂移或损毁。
☆ 采用自动校准软件技术，可排除连接插件接触面、电路板上的线路或继电器接点上细微的压降问题，以避免使用昂贵而麻烦的KELVIN插座，保证MOSFET的Rds(on)可达±1mΩ (±0.001Ω)。
元件类型 | 漏电流 | 崩溃电压 | 导通参数 | 放大倍率 | 触发参数 | 闩扣参数 | 保持参数 | 开关参数 |
Bipolar Transistor | Iceo、Ices、Icev、Icbo、Iebo | BVceo、BVces BVcev、BVcbo BVebo | Vce(sat) Vbe(sat) | hFE | Vbe(on) | ton toff | ||
MOSFET Transistor | Idss、Igsr、Igsf、Idsv | BVdss | Vds(on)、Ids(on) Rds(on)、Vsd | gFS | Vgs(th) Vgs(on) | ton toff | ||
IGBT | Ices、Igsr、Igsf | BVces | Vce(sat)、 Ic(on)、Vf | gFS | Vge(th) Vge(on) | ton toff | ||
TRIAC | Idrm、Irrm | BVrrm、BVdrm | Vtm+、Vtm- | Iga 1/2/3/4 Vga 1/2/3/4 | Ih+、Ih- | |||
SCR | Idrm、Irrm、Igko | BVdrm、BVrrm BVgko | Vtm | Igt、Vgt | IL | Ih | ||
GTO | Idrm、Irrm、Igrm | Vtm | Igt、Vgt | IL | Ih | |||
DIODE | Ir | BVr | Vf、If | |||||
Zener Diode | Ir | BVz、BVr | Vf | |||||
J-FET | Igss | BVgss | Idss、Rds(on) Vds(on) | gFS | Vgs(p) | Id(p) | ||
Regulator | +/-Vo、+/-Ipk +/-Isc | +/-dV | +/-0r、+/-Ir | |||||
Optoisolator | Irrm、Ir、Iceo Icbo、Iebo Ic(off)、Idrm | BVceo、BVcbo BVebo | Vf、Ic(on)、 Vce(sat)、Vtm | CTR、hFE | Igt | Ih | ||
VTS | Ir | BVr | Vbo、bo、dVbo |
大功率半导体元件的测试
当功率模块老化时，其工作效能必定降低，一个应用在大功率开关上的功率元件，在其使用期限内，如能定期维护测
试，可确保其使用的状态，防止故障发生。
IST 8900半导体元件全自动测试系统，可以仿真元件在真正工作状态下的电流及电压，并测量重要参数的数据，再与
原出厂指标比较，由此来判定元件的好坏或退化的百分比。
导通参数测试如：Vce(sat)、Vds(on)、Rds(on)、Vf及Vtm等，可由选购外部电流模块M2400与M4800，将IST 8900的大功率测试电流扩大至数千安培。
每个电流模块，都具有独立的供电系统，以便在测试时，提供内部电路及电池组充电之用；IST 8900可通过一个DB-25接口，连续控制电流量0~2400A或0~4800A。
可选购外部高压模块，执行关闭状态参数测试如：各项崩溃电压与漏电流测量达10KV。
| 泄漏电流测量档位 Leakage Current Measurement Range | ||||||||||
| 测试参数 Parameter | 电流档位 Current Range | 分辨率 Resolution | Accuracy | 测量条件 Test Condition | ||||||
| Iceo/s/v、Icbo、 Iebo、Idss/v、 Igsr/f、Idrm、 Irrm、Igko、 Igss、Ir、 Ic(off) | 0 - 400 nA | 0.1 nA | ± 3% | 0 - 2.5 KV | ||||||
| 0 - 4 μA | 1 nA | ± 1% | 0 - 2.5 KV | |||||||
| 0 - 40 μA | 10 nA | ± 1% | 0 - 2.5 KV | |||||||
| 0 - 400 μA | 0.1 nA | ± 1% | 0 - 2.5 KV | |||||||
| 0 - 4 mA | 1 μA | ± 1% | 0 - 2.5 KV | |||||||
| 0 - 40 mA | 10 μA | ± 1% | 0 - 2.0 KV | |||||||
| 0 - 400 mA | 0.1 mA | ± 1% | 0 - 1 KV | |||||||
| 崩溃电压档位 Breakdown Voltage Range | ||||||||||
| 测试参数 Parameter | 电压文件位 Voltage Range | 分辨率 Resolution | Accuracy | 测量条件 Test Condition | ||||||
| BVceo/s/v、BVcbo、Vebo、BVdss、BVr、BVdrm、BVrrm、BVgss、BVz | 0 - 30 V | 0.05 V | ± 1% | 0 - 5 A | ||||||
| 30 - 60 V | 0.05 V | ± 1% | 0 - 2 A | |||||||
| 60 - 2500 V | 0.3 V | ± 2% | 0 - 40 mA | |||||||
| 导通电流测量档位 On-State Current Range | ||||||||||
| 测试参数 Parameter | 电流档位 Current Range | 分辨率 Resolution | Accuracy | 测量条件 Test Condition | ||||||
| hFE、Vce(sat)、Vbe(on)、Vbe(sat)、Vds(on)、Ids、Vds、Rds(on)、Ic(on)、Vf、If、Vtm、± Vo、± Ipk、± Isc、Vbo、Ibo | 0 - 20 mA | 5 μA | ±13% | 0 - 40 V | ||||||
| 0 - 200 mA | 50 μA | ± 1% | 0 - 40 V | |||||||
| 0 -2 A | 0.5 mA | ± 1% | 0 - 40 V | |||||||
| 0 - 25 A | 6 mA | ± 1% | 0 - 30 V | |||||||
| 0-50 A | 12mA | ± 1% | 0 - 20 V | |||||||
| 触发电流档位 Trigger Current Range | ||||||||||
| 测试参数 Parameter | 电流档位 Current Range | 分辨率 Resolution | Accuracy | 测量条件 Test Condition | ||||||
| hFE、Vgs(th)、Vbe(on)、Vgs(on)、Vge(th)、Vge(on)、Igt、Vgt、IL、Ih、Ic(on)、Igt 1/2/3/4、Vgt 1/2/3/4 | 0 - 100 μA | 20 nA | ±1% | 0 - 20 V | ||||||
| 0 - 1 mA | 0.2 μA | ± 1% | 0 - 20 V | |||||||
| 0 -10 mA | 2 μA | ± 1% | 0 - 20 V | |||||||
| 0 - 100 mA | 20 μA | ± 1% | 0 - 20 V | |||||||
| 0 - 1 A | 0.2 mA | ± 1% | 0 - 20 V | |||||||
| 0 - 20 A | 4 mA | ± 1% | 0 - 20 V | |||||||
| 触发电压文件位Trigger Voltage Range | ||||||
| 测试参数 Parameter | 电压文件位 Voltage Range | 分辨率 Resolution | Accuracy | |||
| Vbe(on),Vbe(sat),Vge(on), Vgs(on), Vgt | 0 - 20 V | 4 mV | ± 1% | |||
| 开关时间 Switching Time | ||||||
| 测试参数 Parameter | 电压文件位 Voltage Range | 分辨率 Resolution | Accuracy | |||
| ton、toff | 0 - 1095 ns 连续调整 | 5 ns | ± 1% | |||
| 机身规格 | ||
| 仪器 | 体积 高x深X宽 | 重量 |
| 主机 | 11.43cm x43.69cm x41.91cm | 7.7 kg |
| M2400A | 31.75cm x44.45cm x53.34cm | 75 kg |
| M4800A | 49.53cm x44.45cm x53.34cm | 120 kg |
| 10kV电压模块 | 12.7cm x 27.94cm x30.48cm | 5.5 kg |
● AC电源线
● 操作手册
● 二极管轴心引脚测试治具
● 测试治具，适用于TO-220、202、237、218、92
● 测试治具，适用于TO-247、247 super
● 测试治具，适用于SMD封装
选购配件：
● 通用测试夹治具(短测试线)
● 通用测试夹治具(长测试线)
● 测试插座转接器，适用于单/双光耦合装置
● 测试治具，适用于TO-3、66、204
● DB-25公头/公头接口控制导线，适用于连接外部模
块机箱
● 超弹性硅胶大功率测试线
● 夹式测试治具，适用于150mm直径圆盘封装
