仪器简介：
技术参数：
主要特点：
在结构研究中, 大量的样品需要在高放大倍数、更多细节的水平上进行观察和分析。同时, 随着样品种类的不断增多(如: 低原子序数材料, 不导电材料等), 需要扫描电子显微镜提供优异的低加速电压性能, 以获得高质量的真实表面图像。Inspect F50 场发射扫描电子显微镜系统就是根据这一要求而设计的。它还提供了低加速电压的背散射电子图像, 薄样品的暗场/明场STEM(扫描透射)像。Inspect F50 系统操作和维护方便, 同时可安装各种扫描电镜的附件(如: 能谱仪系统, 波谱仪系统, EBSD等等)。Inspect F50 是一款经典的场发射扫描电子显微镜。
技术参数：
1.灯丝: 超高亮度Schottky场发射灯丝
2.分辨率：1.0 nm @ 30 kV, 3.0 nm @ 1 kV
二次电子:
1.0 nm @ 30 kV, 3.0 nm @ 1 kV
减速模式 2.3nm @ 1kV, 3.1nm @ 200V (可选项)
背散射电子:
2.5nm @ 30kV
3.加速电压：200 V - 30 kV, 连续可调
4.探测器：E-T二次电子探测器，可选背散射探测器
5. 50x50mm 4轴马达驱动全对中样品台
主要特点：
1.分子泵 + 离子泵真空系统
2.高稳定性、超高亮度场发射灯丝，满足高分辨观察和微观分析的要求
3.可选FEI独特的STEM探测器，分辨率达到0.8nm
4.稳定的大束流(200nA)确保高速、准确的能谱、波谱和EBSD分析
5.Windows XP操作系统
