TMS是一套全波长的0度角透过率检测仪，能快速准确地测量各类平面光学元件的透射率，可用于实时在线检测，实现产品全检。适用于棱镜、镀膜镜、胶合镜、平行平板、太阳膜、滤光片等平面光学元件的检测。
TMS透过率测试仪-技术参数
TMS透过率测试仪-独特的软件设计
TMS透过率测试仪-技术参数
| 型号 | TMS（I型） | TMS（II型） |
| 探测器 | Sony线形CCD 阵列 | Hamamatsu背照式2D-CCD |
| 检测范围 | 380-1000nm | 360-1100nm |
| 波长分辨率 | 1nm | 1nm |
| 信噪比（全信号） | 250：1 | 1000：1 |
| 相对检测误差 | ﹤0.5%（400-800nm） | ﹤0.2%（400-800nm） |
| 单次测量时间 | ﹤1s | |
| 样品尺寸 | ≥ Φ3mm | |
| 操作系统/接口 | Windows XP, Windows Vista/ USB2.0 | |
| 电源/功率 | 220V-50HZ/6W | |
- 智能化软件操作:可自定义测量方式和角度，实时显示测量样品关注波长位置的透/反射率数据，自动调整显示坐标范围，高效地进行批量样品检测及谱图对比分析。
- 谱图管理:可同时记录多达20个样品谱图，批量保存测量结果，记录谱图测试积分时间，能对谱图进行更名、定义颜色、选择是否显示、加粗等操作，程度地方便了谱图的管理和分析。
- 自定义测量方案:用户可以自行定义测量的方案，同时设置判定标准，使检测更快速，结果更准确。
- 谱图数据处理功能:备有丰富的光学元件数据库，可根据数据库已存标准数据对比分析结果，用户可自行对数据库进行添加、修改和删除，还可将测量数据导入Excel有利于进一步对谱图进行分析和研究。
- CIE颜色测量功能:可以计算样品各种CIE颜色参数， x，y，L,a,b,饱和度，主波长等。
- 数据打印功能:可快速批量打印样品测量数据及谱图，自定义测量出具单位名称。
