Sphere-3000球面光学元件显微检测仪
Sphere3000是一套全波长显微球面光学元件光谱分析仪，能快速准确地测量各类球面/非球面器件的相对/反射率。适用于凸透镜、凹透镜、镜片等的镀膜反射率测量。还可进行有干涉条纹的单层膜厚或折射率测量。
特点：
- 显微测定微小领域的反射率 物镜对焦于被测物微小区域（φ60μm）
- CIE颜色测定 X Y色度图，x, y, L, a, b, 饱和度，主波长等
- 检测速度快 高性能探测器，能在几秒内实现重现性高的测定
- 消除背面反射光 无需进行背面防反射处理即可快速准确地测定表面反射率
技术参数
| 型号 | Sphere-3000（I型） | Sphere-3000（II型） | Sphere-3000（III型） |
| 检测范围 | 380~800nm | 380~1000nm | 380~1100nm |
| 波长分辨率 | 1nm | 1nm | 1nm |
| 相对检测误差 | ﹤1% | ﹤1% | ﹤0.5% |
| 测定方法 | 与标准物比较测定 | ||
| 被测物再现性 | ±0.1%以下 (2σ)（380nm~410nm） ±0.05%以下 (2σ)(410nm~800nm) | ±0.1%以下 (2σ)（380nm~410nm） ±0.05%以下 (2σ)(410nm~1000nm) | ±0.1%以下 (2σ)（380nm~410nm） ±0.05%以下 (2σ)(410nm~1100nm) |
| 单次测量时间 | ﹤1s | ||
| 0.3nm | |||
| 被测物N.A. | 0.12(使用10×对物镜时) 0.24(使用20×对物镜时) | ||
| 被测物尺寸 | 直径>1mm 厚度>1mm(使用10×对物镜时) 厚度>0.5mm(使用20×对物镜时) | ||
| 被测物 测定范围 | 约φ60μm(使用10×对物镜时) 约φ30μm(使用20×对物镜时) | ||
| 设备重量 | 约15kg（光源内置） | ||
| 设备尺寸 | 300(W)×550(D)×570(H)mm | ||
| 使用环境 | 水平且无振动的场所 温度：23±5℃；湿度：60％以下、无结露， | ||
| 操作系统 | Windows XP, Windows Vista，Win7 | ||
| 软件 | 分光反射率、物体颜色、单层膜厚（有干涉条纹）和镀膜折射率（有干涉条纹）测定 | ||
