| 全自动光学元件光谱分析仪 型号：Planum-3000 用途：用于各类平面光学元件的反射、透射光谱快速测量。可进行多角度相对/ 反射率、透过率测量，偏振光测量，膜性测量。 全自动光学元件光谱分析仪-适宜测量范围：棱镜、平行平板、镜面等平面光学性能。 |
| 类别 | I型 | II型 | III型 |
| 探测器 | Sony ILX511 x线形CCD 阵列 | Sony ILX511 x线形CCD 阵列 | Hamamatsu S7031背照式2D-CCD |
| 检测范围 | 380-1000nm | 380-1100nm | 360-1100nm |
| 波长分辨率 | <1.35nm | <1.35nm | <1.35nm |
| 信噪比（全信号） | 250：1 | 250：1 | 1000：1 |
| 相对检测误差 | <0.6%(400-800nm) | <0.6%(400-800nm) | <0.2%(400-800nm) |
| 操作方式 | 手动 | 电动 | 电动 |
| 角度分辨率 | 0.1º | <0.0002º | <0.0002º |
| 重复定位： | - | <0.005º | <0.005º |
| 旋转速度: | - | 25º/s | 25º/s |
| 透射/反射测量角 | >8º，<80º,可扩展到5º | ||
| 单次测量时间 | <100ms | ||
| S/P光测量 | 可以 | ||
| 样品尺寸 | >5mm | ||
| 操作系统/接口 | Windows XP Vista /USB2.0 | ||
| 产品尺寸 | 1020mm*485mm*300mm | ||
| 功率/电源： | 100W/220V-50HZ | ||
| 其他 | 可自定义打印报表格式，开放式光学材料光坯反射率数据库 | ||
