日本ENPLAS BGA测试老化座,测试老化座,老化座 - 斯纳达科技
| 价 格： | 面议 | |
| 是否提供加工定制： | 否 | |
| 品牌/商标： | 进口 | |
| 型号/规格： | BGA | |
| 应用范围： | 集成电路IC | |
| 种类： | 无 | |
| 接口类型： | 其他 | |
| 读卡类型： | 无 | |
| 形状： | 无 | |
| 制作工艺： | 无 | |
| 特性： | 无 | |
| 工作频率： | 无 | |
| 接触件材质： | 无 | |
| 绝缘体材质： | 无 | |
| 芯数： | 无 | |
| 针数： | 无 | |
| 线长： | 无（mm） |
ENPLAS BGA封装测试座/老化座BGA Test &Burn-in socket
OTB-84(256)-1.0-04 OTB-196(256)-1.0-02 OTB-292(400)-1.27-09
OTB-100(256)-1.0-04 OTB-196(256)-1.0-03 OTB-303(400)-1.27-12
OTB-108(256)-1.0-05 OTB-208(400)-1.27-04 OTB-313(676)-1.27-01
OTB-119(153)-1.0-01 OTB-209(400)-1.27-02 OTB-320(676)-1.27-04
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OTB-119(153)-1.27-04 OTB-228(400)-1.27-08 OTB-349(400)-1.27-02
OTB-119(153)-1.27-05 OTB-240(676)-1.27-02 OTB-349(400)-1.27-11
OTB-119(153)-1.27-06 OTB-252(400)-1.27-02 OTB-352(676)-1.27-01
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OTB-148(256)-1.0-02 OTB-255(400)-1.27-10 OTB-360(400)-1.27-02
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OTB-196(256)-1.0-01 OTB-272(400)-1.27-02
- 所属城市：广东 深圳
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信息内容：兼容有球无球测试，IC限位框可更换，相比同类产品具有使用寿命长、通用性广（支持尺寸：14mmX18mm）；核心电压可调设计，同时具备过流保护功能,可以测试flash与主控芯片电流（加电流表可监测核心电流）；支持热拔插，同时支持通过SD接口、排针与相应设备连接测试；同时兼容：东芝、三星、海力士、Intel 、Sandisk(新帝) 等所有同样封装的 4BIT 、8BIT eMMC 闪存记忆体。 (只需相应 PIN 脚定义一样同时兼容 169-FBGA 153-FBGA ；弹片采用铍铜经高精度模具冲压成形，头形仿探针设计，后期加硬、加厚镀金层处理，从而保证产品稳定性及耐用性；采用通孔焊接结构保证接触良好，socket与PCBA采用定位孔结合方便更换；采用下压式结构,更加便于自动化测试，操作方便简单；
007-21162B-2101(eMCP162)测试老座,兼容有球无球测试—斯纳达
信息内容：dzsc/19/0780/19078036.jpgdzsc/19/0780/19078036.jpg兼容有锡球无锡球测试采用特殊工程塑料进口导电材料，工作温度达到-65度—170度使用寿命比一般测试座要长，在25000次左右 dzsc/19/0780/19078036.jpg产品名称：eMCP162测试老化座产品型号：007-BGA-0.5-162-B-01外壳材质：PEI,PES弹片材质 ：Beryllium Copper(BeCu)绝缘电阻 :1000 mΩ Min,At DC 500V耐电压：700 AC / 1Minute接触阻抗：<30 mΩPIN脚弹力：3-5g Per Pin (Normal)机械寿命：25,000 Times工作温度：From -55℃to 175℃操作力：2.1Kg Max额定电流：1A Max dzsc/19/0780/19078036.jpgdzsc/19/0780/19078036.jpgdzsc/19/0780/19078036.jpg
