美国SENSATA QFP测试老化座,测试老化座,老化座 - 斯纳达科技
| 价 格： | 面议 | |
| 是否提供加工定制： | 否 | |
| 品牌/商标： | 进口 | |
| 型号/规格： | QFP | |
| 应用范围： | 集成电路IC | |
| 种类： | 无 | |
| 接口类型： | 其他 | |
| 读卡类型： | 无 | |
| 形状： | 无 | |
| 制作工艺： | 无 | |
| 特性： | 无 | |
| 工作频率： | 无 | |
| 接触件材质： | 无 | |
| 绝缘体材质： | 无 | |
| 芯数： | 无 | |
| 针数： | 无 | |
| 线长： | 无（mm） |
美国SENSATA QFP老化测试座
| Insulator： | PEI (glass filled) |
| Contact： | Beryllium copper |
| Plating： | Gold over nickel |
| Insulation Resistance： | 1,000 M ohm minimum at 500 VDC |
| Withstanding Voltage： | 100–700 VAC for 1 minute |
| Contact Resistance： | 30 m ohm maximum at 10mA/20mV (initial) |
| Temperature Rating： | -40 °C to 150 °C |
| Current Rating： | 1.0 Amp |
| Durability： | 10,000 cycles minimum |
Part Number:
CQF024-165B CQF100-151A CQF100-160-AC
CQF044-131A CQF100M-155A CQF100-166B
CQF048-149A CQF100-155A CQF120-142B
CQF100-138A CQF100-158A CQF144-167D*
CQF100-143E CQF208-168B*
"
- 所属城市：广东 深圳
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： chris
- 电话：0755-23036306
- 传真：-
- 手机：
- QQ ：
日本ENPLAS BGA测试老化座,测试老化座,老化座 - 斯纳达科技
信息内容：ENPLAS BGA封装测试座/老化座BGA Test &Burn-in socket OTB-84(256)-1.0-04 OTB-196(256)-1.0-02 OTB-292(400)-1.27-09OTB-100(256)-1.0-04 OTB-196(256)-1.0-03 OTB-303(400)-1.27-12OTB-108(256)-1.0-05 OTB-208(400)-1.27-04 OTB-313(676)-1.27-01OTB-119(153)-1.0-01 OTB-209(400)-1.27-02 OTB-320(676)-1.27-04OTB-119(153)-1.27-02 OTB-209(400)-1.27-07 OTB-324(400)-1.27-02OTB-119(153)-1.27-03 OTB-228(400)-1.27-06 OTB-328(400)-1.27-02OTB-119(153)-1.27-04 OTB-228(400)-1.27-08 OTB-349(400)-1.27-02OTB-119(153)-1.27-05 OTB-240(676)-1.27-02 OTB-349(400)-1.27-11OTB-119(153)-1.27-06 OTB-252(400)-1.27-02 OTB-352(676)-1.27-01OTB-144(256)-1.0-01 OTB-255(400...
eMMC测试老化座头|测试老化座|老化座|eMMC测试老化座
信息内容：兼容有球无球测试，IC限位框可更换，相比同类产品具有使用寿命长、通用性广（支持尺寸：14mmX18mm）；核心电压可调设计，同时具备过流保护功能,可以测试flash与主控芯片电流（加电流表可监测核心电流）；支持热拔插，同时支持通过SD接口、排针与相应设备连接测试；同时兼容：东芝、三星、海力士、Intel 、Sandisk(新帝) 等所有同样封装的 4BIT 、8BIT eMMC 闪存记忆体。 (只需相应 PIN 脚定义一样同时兼容 169-FBGA 153-FBGA ；弹片采用铍铜经高精度模具冲压成形，头形仿探针设计，后期加硬、加厚镀金层处理，从而保证产品稳定性及耐用性；采用通孔焊接结构保证接触良好，socket与PCBA采用定位孔结合方便更换；采用下压式结构,更加便于自动化测试，操作方便简单；
