合金座头|SRD-4055-A|BGA测试座合金座头|IC测试治具座头|测试座
| 价 格： | 面议 | |
| 加工定制： | 是 | |
| 品牌/商标： | 斯纳达 | |
| 型号/规格： | SRD-3545-A | |
| 应用范围： | BGA测试治具上用 | |
| 种类： | 合金类 | |
| 接口类型： | 其他 |
产品特点：
- 此款座头适用于尺寸小的芯片，特为感光芯片设计
- 因芯片小，在浮板内容易移动，所以要使得座头稳固，将内框设计较小，座头底框更为结实
- 多个孔位，定位更加
- 轴两边使用螺丝锁紧，轴不掉出。
- 手扣为弹压式，操作起来非常方便
- 通用性广，摆动块中心位置，设计为通孔，感光芯片都可通用
特别说明：
- 可根据客户要求订制
- 此产品采用进口铝合金CNC加工制造，表面经化学氧化处理，光亮美观，适用性强
- 适用于BGA测试架，BGA芯片放于底座底部，上盖可调节旋转行程
- 压块可卸下根据BGA的不同更换不同的压块材料，方便测试
- 款式多样化，可根据不同BGA的大小配合不同大小的测试座头
- 表面颜色可根据客户的要求处理不同的颜色效果
- 所属城市：广东 深圳
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： chris
- 电话：0755-23036306
- 传真：-
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美国SENSATA QFP测试老化座,测试老化座,老化座 - 斯纳达科技
信息内容：美国SENSATA QFP老化测试座 Insulator：PEI (glass filled)Contact：Beryllium copperPlating：Gold over nickelInsulation Resistance：1,000 M ohm minimum at 500 VDCWithstanding Voltage：100–700 VAC for 1 minuteContact Resistance：30 m ohm maximum at 10mA/20mV (initial)Temperature Rating：-40 °C to 150 °CCurrent Rating：1.0 AmpDurability：10,000 cycles minimum Part Number: CQF024-165B CQF100-151A CQF100-160-ACCQF044-131A CQF100M-155A CQF100-166BCQF048-149A CQF100-155A CQF120-142BCQF100-138A CQF100-158A CQF144-167D*CQF100-143E CQF208-168B* "
日本ENPLAS BGA测试老化座,测试老化座,老化座 - 斯纳达科技
信息内容：ENPLAS BGA封装测试座/老化座BGA Test &Burn-in socket OTB-84(256)-1.0-04 OTB-196(256)-1.0-02 OTB-292(400)-1.27-09OTB-100(256)-1.0-04 OTB-196(256)-1.0-03 OTB-303(400)-1.27-12OTB-108(256)-1.0-05 OTB-208(400)-1.27-04 OTB-313(676)-1.27-01OTB-119(153)-1.0-01 OTB-209(400)-1.27-02 OTB-320(676)-1.27-04OTB-119(153)-1.27-02 OTB-209(400)-1.27-07 OTB-324(400)-1.27-02OTB-119(153)-1.27-03 OTB-228(400)-1.27-06 OTB-328(400)-1.27-02OTB-119(153)-1.27-04 OTB-228(400)-1.27-08 OTB-349(400)-1.27-02OTB-119(153)-1.27-05 OTB-240(676)-1.27-02 OTB-349(400)-1.27-11OTB-119(153)-1.27-06 OTB-252(400)-1.27-02 OTB-352(676)-1.27-01OTB-144(256)-1.0-01 OTB-255(400...
