价 格: | 18900.00 |
品牌:WEIHE 型号:WAW 类型:电子拉力试验机 测量范围:500-2000(KN) 测量精度:1级
1、采用单空间(四立柱框架)结构形式,采用双向油缸,在一个空间内实现拉压双向控制。
2、适用于金属棒材、板材、螺纹钢的拉伸试验,特别适合高强度、高硬度金属材料的拉伸试验,符合GB/T 228-2002金属室温 拉伸试验标准要求。
3、主机为钢性无间隙结构,拉伸试样断裂时,试验机对地面无冲击。
4、本机采用美国进口双向法兰式负荷传感器,抗偏载能力强,测量精度高,线性度好等特点。
5、该产品采用了液压直夹技术,解决了楔型夹具夹紧试样后试样受初始力的问题。试样夹紧力自动控制,对于高强度、高硬度等特别难夹持的材料具有良好的夹持效果。具有独特结构的夹紧同步油缸,无论圆试样直径和板试样厚度如何变化都能够保证的同轴度。
6、本机具有力、应变、位移三闭环功能,并可以进行无冲击切换。
7、自主研发的RE控制系统,采用高速浮点DSP作为控制器的运算核心,模块化设计、工业级原器件、电磁兼容设计、欧洲标准使RE控制系统具有国际水平。
8、模块化的RE-TEST试验软件满足国标、国际标准的试验要求。
Windows平台试验软件具有功能强大,扩展性强等特点。
9、本设备具有多重保护功能,具有硬件和软件过载保护、超压保护、滤油器报警保护、限位保护等。
10、符合GB/T2611-92《试验机通用技术要求》和GB/T16826-1997《电液式试验机》的要求。
类型:光学显微镜 品牌:韩国SNU 型号:SIS 2000 仪器放大倍数:40-1000 目镜放大倍数:10 物镜放大倍数:10 20 40 50 重量:150KG(g) 适用范围:TFT产业2、半导体3、MEMS4、高校科研5、精密加工 装箱数:2产品介绍 白光干涉仪SIS系列采用增加相位扫描干涉技术,是专为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度和其他表面参数而设计的微纳米测量系统,,为韩国SAMSUNG全球指定供应商,LPL友好俱乐部成员,清华大学,台湾大学,首尔大学友好合作伙伴。 产品特点1、非接触式测量:避免物件受损。2、三维表面测量:表面高度测量范围为1nm-200μm。3、多重视野镜片:方便物镜的快速切换。4、纳米级分辨率:垂直分辨率可以达到0.1nm。5、高速数字信号处理器:实现测量仅需要几秒钟。6、扫描仪:采用闭环控制系统。7、工作台:气动装置、抗震、抗压。8、测量软件:基于windows 操作系统的用户界面,强大而快速的运算。 技术参数机型SIS 2000工作台尺寸350mm×350mm倾斜度±3°测量行程X:200mm Y:200mmZ轴行程100mm运动方式自动,马达驱动扫描速度30μm/sec垂直分辨率0.1nmCCD黑白CCD,640×480像素物镜安装架手动5个位移的可定位夹具镜头选配镜头:5×、...
品牌:韩国SNU 型号:SIS 1200 测量范围:X:150mm Y:100mm产品介绍 白光干涉仪SIS系列采用增加相位扫描干涉技术,是专为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度和其他表面参数而设计的微纳米测量系统,,为韩国SAMSUNG全球指定供应商,LPL友好俱乐部成员,清华大学,台湾大学,首尔大学友好合作伙伴。 产品特点1、非接触式测量:避免物件受损。2、三维表面测量:表面高度测量范围为1nm-200μm。3、多重视野镜片:方便物镜的快速切换。4、纳米级分辨率:垂直分辨率可以达到0.1nm。5、高速数字信号处理器:实现测量仅需要几秒钟。6、扫描仪:采用闭环控制系统。7、工作台:气动装置、抗震、抗压。8、测量软件:基于windows 操作系统的用户界面,强大而快速的运算。 技术参数 机型SIS 1200工作台尺寸250 mm×174 mm倾斜度±3°测量行程X:150mm Y:100mmZ轴行程50mm运动方式手动扫描速度30μm/sec垂直分辨率0.1nmCCD黑白CCD,640×480像素物镜安装架手动导引五孔式镜头选配镜头:5×、10×、20×、50× 应用领域:1、TFT产业2、半导体3、MEMS4、高校科研5、精密加工