供应SNU白光干涉仪,显微镜干涉仪
| 价 格： | 15200.00 |
品牌:韩国SNU 型号:SIS 1200 测量范围:X:150mm Y:100mm
产品介绍 白光干涉仪SIS系列采用增加相位扫描干涉技术，是专为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度和其他表面参数而设计的微纳米测量系统,，为韩国SAMSUNG全球指定供应商，LPL友好俱乐部成员，清华大学，台湾大学，首尔大学友好合作伙伴。 产品特点1、非接触式测量：避免物件受损。
2、三维表面测量：表面高度测量范围为1nm-200μm。
3、多重视野镜片：方便物镜的快速切换。
4、纳米级分辨率：垂直分辨率可以达到0.1nm。
5、高速数字信号处理器：实现测量仅需要几秒钟。
6、扫描仪：采用闭环控制系统。
7、工作台：气动装置、抗震、抗压。
8、测量软件：基于windows 操作系统的用户界面，强大而快速的运算。
技术参数
机型 | SIS 1200 | |
工作台 | 尺寸 | 250 mm×174 mm |
倾斜度 | ±3° | |
测量行程 | X:150mm Y:100mm | |
Z轴行程 | 50mm | |
运动方式 | 手动 | |
扫描速度 | 30μm/sec | |
垂直分辨率 | 0.1nm | |
CCD | 黑白CCD，640×480像素 | |
物镜安装架 | 手动导引五孔式 | |
镜头选配 | 镜头：5×、10×、20×、50× | |
- 所属城市：广东 佛山
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供应智泰精密测量仪器XLE-3大平台检测显微镜
信息内容：品牌:3DFAMILY 型号:XLE-3 仪器放大倍数:40X-500X 目镜放大倍数:4-40X 物镜放大倍数:10-12.5X 重量:30（g） 适用范围:专为IT行业大面积集成电路，晶体的质量检测 装箱数:1 XLE-3大平台检测显微镜 XLE-3型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶体的质量检测而设计开发制造的。 正置式，三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连续彩色监视器可直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机，照相机直接拍照，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，存储，查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。 1）放大倍数：40倍至500倍； 2）超大型载物台，可作大范围的纵横方向快、慢速移动，扩大检测领域的使用范围，适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门，以及金相技术检验，失效分析等。 主要技术参数 1.机械筒长160mm 2.物镜 4× 10× PC20× PC40× 3.目镜 10× 12.5× 4.物镜: 放大倍数,400倍至500倍 5.载物台面积 400mm×300mm 纵向移动范围---254mm 横向移动范围---254mm 6.调焦机构:同轴粗微调机构,调焦范围36mm.格值0.002mm 7.光源：内藏式连续调...
供应大平台检测显微镜
信息内容：类型:金相显微镜 型号:12产品介绍:XLE-1型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶片的质量检测而设计开发制造的。主体为：正置式、三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连接彩色监视器直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机，照相机直接拍照，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，存储、查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。 检测显微镜具有独特的特点： 1）放大倍数：40倍至500倍； 2）超大型载物台，样品可作大范围的纵、横方向快、慢速移动，扩大检测领域的使用范围，适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门，以及金相技术检验，失效分析等。主要技术参数1.机械筒长 160mm2.物镜放大倍数 数值孔径有效工作距离（mm）介质4×0.117.912干10×0.256.544干20×0.41.05干40×0.650.736干3.目镜放大倍数焦距视场直径备注10×251812.5×2514选配4.放大倍数 40×--500×5.载物台面积 350mm×255mm 纵向移动范围---200mm 横向移动范围---200mm6.粗微动调焦范围 25mm,微调转动一圈样品升降0.2mm,格值 0.002mm7...
