供应自动白光干涉仪,显微镜干涉仪
| 价 格： | 15200.00 |
类型:光学显微镜 品牌:韩国SNU 型号:SIS 2000 仪器放大倍数:40-1000 目镜放大倍数:10 物镜放大倍数:10 20 40 50 重量:150KG（g） 适用范围:TFT产业2、半导体3、MEMS4、高校科研5、精密加工 装箱数:2
产品介绍 白光干涉仪SIS系列采用增加相位扫描干涉技术，是专为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度和其他表面参数而设计的微纳米测量系统,，为韩国SAMSUNG全球指定供应商，LPL友好俱乐部成员，清华大学，台湾大学，首尔大学友好合作伙伴。 产品特点1、非接触式测量：避免物件受损。
2、三维表面测量：表面高度测量范围为1nm-200μm。
3、多重视野镜片：方便物镜的快速切换。
4、纳米级分辨率：垂直分辨率可以达到0.1nm。
5、高速数字信号处理器：实现测量仅需要几秒钟。
6、扫描仪：采用闭环控制系统。
7、工作台：气动装置、抗震、抗压。
8、测量软件：基于windows 操作系统的用户界面，强大而快速的运算。
技术参数
机型 | SIS 2000 | |
工作台 | 尺寸 | 350mm×350mm |
倾斜度 | ±3° | |
测量行程 | X:200mm Y:200mm | |
Z轴行程 | 100mm | |
运动方式 | 自动，马达驱动 | |
扫描速度 | 30μm/sec | |
垂直分辨率 | 0.1nm | |
CCD | 黑白CCD，640×480像素 | |
物镜安装架 | 手动5个位移的可定位夹具 | |
镜头选配 | 镜头：5×、10×、20×、50× | |
- 所属城市：广东 佛山
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供应SNU白光干涉仪,显微镜干涉仪
信息内容：品牌:韩国SNU 型号:SIS 1200 测量范围:X:150mm Y:100mm产品介绍 白光干涉仪SIS系列采用增加相位扫描干涉技术，是专为准确测量表面轮廓、粗糙度、台阶高度和其他表面参数而设计的微纳米测量系统,，为韩国SAMSUNG全球指定供应商，LPL友好俱乐部成员，清华大学，台湾大学，首尔大学友好合作伙伴。 产品特点1、非接触式测量：避免物件受损。2、三维表面测量：表面高度测量范围为1nm-200μm。3、多重视野镜片：方便物镜的快速切换。4、纳米级分辨率：垂直分辨率可以达到0.1nm。5、高速数字信号处理器：实现测量仅需要几秒钟。6、扫描仪：采用闭环控制系统。7、工作台：气动装置、抗震、抗压。8、测量软件：基于windows 操作系统的用户界面，强大而快速的运算。 技术参数 机型SIS 1200工作台尺寸250 mm×174 mm倾斜度±3°测量行程X:150mm Y:100mmZ轴行程50mm运动方式手动扫描速度30μm/sec垂直分辨率0.1nmCCD黑白CCD，640×480像素物镜安装架手动导引五孔式镜头选配镜头：5×、10×、20×、50× 应用领域:1、TFT产业2、半导体3、MEMS4、高校科研5、精密加工
供应智泰精密测量仪器XLE-3大平台检测显微镜
信息内容：品牌:3DFAMILY 型号:XLE-3 仪器放大倍数:40X-500X 目镜放大倍数:4-40X 物镜放大倍数:10-12.5X 重量:30（g） 适用范围:专为IT行业大面积集成电路，晶体的质量检测 装箱数:1 XLE-3大平台检测显微镜 XLE-3型大平台检测显微镜是专为IT行业大面积集成电路，晶体的质量检测而设计开发制造的。 正置式，三目镜筒，比传统的显微镜更适合于观察。上部安装彩色摄像机连续彩色监视器可直接观察。可连接计算机打印报告、照片或连接数码相机，照相机直接拍照，还可以直接进行图像记录，并建立技术检测档案，存储，查询，可省去复杂烦琐的摄影，洗印等暗室工作，大大的提高了工作效率。 1）放大倍数：40倍至500倍； 2）超大型载物台，可作大范围的纵横方向快、慢速移动，扩大检测领域的使用范围，适用于电子、冶金、机械、化工、科研、院校等部门，以及金相技术检验，失效分析等。 主要技术参数 1.机械筒长160mm 2.物镜 4× 10× PC20× PC40× 3.目镜 10× 12.5× 4.物镜: 放大倍数,400倍至500倍 5.载物台面积 400mm×300mm 纵向移动范围---254mm 横向移动范围---254mm 6.调焦机构:同轴粗微调机构,调焦范围36mm.格值0.002mm 7.光源：内藏式连续调...
