供应DCGOM-802 微欧姆电阻表
| 价 格： | 10300.00 |
类型:微欧姆电阻表 品牌:无 型号:GOM-802 测量范围:30mΩ ~ 3MΩ（MΩ） 测试电压:见详细说明（V） 精度:0.05% 重量:见详细说明（kg）
简介 |
DC微欧姆电阻表, 30mΩ~ 3MΩ
特点
?精密度高达0.05%
? Hi/Lo比较以及限制百分比设定
? Measurement of REL, Actual and % Value
?可任意选择自动/手动操作模式
?可选择连续/触发量测模式
?Temperature Compensation and Measurement
?采用四线量测技术,提供高精准度量测
?自动记忆前次关机时设定状态
? PASS / FAIL警告设定
? Scan, Handler接口(标准)
? RS-232C, GPIB接口(选购)
- 所属城市：浙江 杭州
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- 联系人： 瞿雪青
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小额批发台湾固纬微欧姆电阻表GOM-810G
信息内容：类型:数字式电阻测量仪表 品牌:固纬 型号:GOM-810G 测量范围:20mΩ, 200mΩ, 2Ω, 20Ω, 200Ω, 2kΩ 20kΩ（MΩ） 测试电压:115（V） 精度:0.2% + 6 位数) 重量:见详细说明（kg）量测范围：20mΩ, 200mΩ, 2Ω, 20Ω, 200Ω, 2kΩ 20kΩ 共 7 档 ；准确度 ：量测 20mΩ+ (0.2% 读值 + 6 位数), 200mΩ~ 20kΩ+ (0.2% 读值 + 4 位数)，设定 + (0.2% + 6 位数) ；解析度 ： 0.01mΩ, 0.1mΩ , 1mΩ, 10mΩ, 100mΩ, 1Ω, 10Ω ；比较器 ： 可设定 HI, LO ；显示： 3 1/2 位数 0.5" LED 显示幕；HI, GO, LO 指示灯 ；使用电源： 交流 115V/230V±10%, 50/60Hz
供应SGC-10薄膜测厚仪
信息内容：类型:薄膜测厚仪 品牌:美国 型号:SGC-10 测量范围:20nm-50um（只测膜厚），100nm-25um（同时测量膜厚和光学常数n，k）（mm） 显示方式:详细说明 电源电压:详细说明（V） 外形尺寸:详细说明（mm）仪器介绍 SGC-10薄膜测厚仪，适用于介质，半导体，薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪，是我公司与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司先进的薄膜测厚技术，基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数（折射率n，消光系数k）。它通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱，用相应的软件来拟合运算，得到单层或多层膜系各层的厚度d，折射率n，消光系数k。该设备关键部件均为国外进口，也可根据客户需要整机进口。技术参数参数和性能指标厚度范围： 20nm-50um（只测膜厚），100nm-25um（同时测量膜厚和光学常数n，k）准确度： <1nm或<0.5%重复性： 0.1nm波长范围： 380nm-1000nm可测层数： 1-4层样品尺寸： 样品镀膜区直径>1.2mm测量速度： 5s-60s光斑直径： 1.2mm-10mm可调主要特点仪器特点1 非接触式测量，用光纤探头来...
