小额批发台湾固纬微欧姆电阻表GOM-810G
| 价 格： | 10300.00 |
类型:数字式电阻测量仪表 品牌:固纬 型号:GOM-810G 测量范围:20mΩ, 200mΩ, 2Ω, 20Ω, 200Ω, 2kΩ 20kΩ（MΩ） 测试电压:115（V） 精度:0.2% + 6 位数) 重量:见详细说明（kg）
量测范围：20mΩ, 200mΩ, 2Ω, 20Ω, 200Ω, 2kΩ 20kΩ 共 7 档 ；
准确度 ：量测 20mΩ+ (0.2% 读值 + 6 位数), 200mΩ~ 20kΩ+ (0.2% 读值 + 4 位数)，设定 + (0.2% + 6 位数) ；
解析度 ： 0.01mΩ, 0.1mΩ , 1mΩ, 10mΩ, 100mΩ, 1Ω, 10Ω ；
比较器 ： 可设定 HI, LO ；
显示： 3 1/2 位数 0.5" LED 显示幕；
HI, GO, LO 指示灯 ；
使用电源： 交流 115V/230V±10%, 50/60Hz
- 所属城市：浙江 杭州
- [联系时请说明来自维库仪器仪表网]
- 联系人： 瞿雪青
- 电话：571-88827676
- 传真：571-88827676
- 手机：
- QQ ：
供应SGC-10薄膜测厚仪
信息内容：类型:薄膜测厚仪 品牌:美国 型号:SGC-10 测量范围:20nm-50um（只测膜厚），100nm-25um（同时测量膜厚和光学常数n，k）（mm） 显示方式:详细说明 电源电压:详细说明（V） 外形尺寸:详细说明（mm）仪器介绍 SGC-10薄膜测厚仪，适用于介质，半导体，薄膜滤波器和液晶等薄膜和涂层的厚度测量。该薄膜测厚仪，是我公司与美国new-span公司合作研制的，采用new-span公司先进的薄膜测厚技术，基于白光干涉的原理来测定薄膜的厚度和光学常数（折射率n，消光系数k）。它通过分析薄膜表面的反射光和薄膜与基底界面的反射光相干形成的反射谱，用相应的软件来拟合运算，得到单层或多层膜系各层的厚度d，折射率n，消光系数k。该设备关键部件均为国外进口，也可根据客户需要整机进口。技术参数参数和性能指标厚度范围： 20nm-50um（只测膜厚），100nm-25um（同时测量膜厚和光学常数n，k）准确度： <1nm或<0.5%重复性： 0.1nm波长范围： 380nm-1000nm可测层数： 1-4层样品尺寸： 样品镀膜区直径>1.2mm测量速度： 5s-60s光斑直径： 1.2mm-10mm可调主要特点仪器特点1 非接触式测量，用光纤探头来...
天津港东F-320 荧光分光光度计
信息内容：品牌:天津港东 型号:F-320 光源:150W氙灯 波长范围:200~760nm（nm） 重量:约47kg（g）产品简介·F-320具有性能稳定，使用方便等特点。光谱仪制造技术，使其拥有更杰出的性能。光学设计，也提升了灵敏度等技术指标，也使仪器紧凑，占用更小实验台面积。·基于Microsoft Windows的控制及分析软件，简洁易用，使您轻松进行参数设置、数据采集和数据处理。·采用USB2.0接口，数据传输速度快，连接方便。·高强度的150瓦氙灯，为200-900nm波长范围内的测定提供充足的光能。·高信噪比：100：1水拉曼峰（P/P）·具有波长扫描、时间扫描等特定功能，使用起来更方便。·多种可选附件：固体样品反射附件：用来测量固体粉末样品偏振附件：测量发射光的偏振角度滤光片附件：滤除二级谱及杂散光 主要功能·波长扫描波长扫描功能主要包括荧光强度和发光强度两种数据模式。通过荧光强度数据模式可以得到样品的激发光谱和荧光光谱，是一种比较常用的方法。·时间扫描时间扫描是在规定的时间间隔内采集被测样品的荧光强度随时间变化曲线。可以用来监测样品的物理化学变化，动力学法可被执行。·光度值法使用波长法进行定量，...
